小型液晶屏盒内缺陷自动光学检测关键技术研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-17页 |
| ·课题背景 | 第11-12页 |
| ·小型液晶屏缺陷及其产生原因 | 第12-15页 |
| ·液晶屏结构 | 第12-13页 |
| ·液晶显示原理 | 第13-14页 |
| ·液晶屏缺陷产生原因 | 第14-15页 |
| ·国内外研究现状 | 第15-16页 |
| ·论文研究内容及目的 | 第16-17页 |
| 第二章 缺陷检测系统原理及构成 | 第17-23页 |
| ·检测系统原理 | 第17-18页 |
| ·检测系统构成 | 第18-22页 |
| ·照明 | 第18-19页 |
| ·图像采集 | 第19-21页 |
| ·图像处理 | 第21-22页 |
| ·本章小结 | 第22-23页 |
| 第三章 图像预处理 | 第23-46页 |
| ·图像 ROI 提取 | 第23-34页 |
| ·图像二值化 | 第23-25页 |
| ·干扰物体剔除 | 第25-28页 |
| ·液晶屏外轮廓提取 | 第28-30页 |
| ·矩形 ROI 拟合 | 第30-31页 |
| ·图像旋转剪切 | 第31-34页 |
| ·图像彩色模型转换 | 第34-38页 |
| ·彩色模型 | 第34-36页 |
| ·彩色模型转换 | 第36-38页 |
| ·液晶屏纹理处理 | 第38-41页 |
| ·标准屏纹理信息采集 | 第38-39页 |
| ·待测屏纹理消除 | 第39-41页 |
| ·图像去噪 | 第41-44页 |
| ·图像噪声 | 第41-43页 |
| ·图像平滑去噪 | 第43-44页 |
| ·本章小结 | 第44-46页 |
| 第四章 图像分割和特征提取 | 第46-63页 |
| ·图像分割 | 第46-50页 |
| ·边缘检测 | 第47-49页 |
| ·阈值分割 | 第49-50页 |
| ·液晶屏缺陷特点分析 | 第50-53页 |
| ·缺陷图像分割 | 第53-57页 |
| ·基于双阈值缺陷分割 | 第53-54页 |
| ·基于边缘的缺陷分割 | 第54-55页 |
| ·缺陷区域分割 | 第55-57页 |
| ·缺陷特征提取 | 第57-60页 |
| ·几何特征 | 第57-58页 |
| ·区域特征 | 第58-60页 |
| ·基于特征值的缺陷分类及检测标准 | 第60-62页 |
| ·缺陷分类策略 | 第60-61页 |
| ·缺陷检测标准 | 第61-62页 |
| ·本章小结 | 第62-63页 |
| 第五章 实验及结果分析 | 第63-66页 |
| ·检测软件设计 | 第63-64页 |
| ·检测算法流程 | 第64-65页 |
| ·实验分析 | 第65页 |
| ·本章小结 | 第65-66页 |
| 第六章 总结及展望 | 第66-67页 |
| ·总结 | 第66页 |
| ·展望 | 第66-67页 |
| 致谢 | 第67-68页 |
| 参考文献 | 第68-72页 |
| 攻硕期间取得的研究成果 | 第72-73页 |
