基于光热辐射成像的玻璃胶接缺陷检测技术研究
| 致谢 | 第1-5页 |
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-16页 |
| ·课题背景及意义 | 第9页 |
| ·玻璃胶接缺陷检测技术综述 | 第9-13页 |
| ·超声 C 扫描法 | 第10-12页 |
| ·可见光成像法 | 第12-13页 |
| ·光热辐射成像技术 | 第13-14页 |
| ·论文组织安排 | 第14-16页 |
| 第二章 光热辐射成像的玻璃胶接缺陷检测原理 | 第16-31页 |
| ·检测系统相关理论 | 第16-23页 |
| ·红外辐射基本理论 | 第16-20页 |
| ·实际物体的红外辐射定律 | 第20-22页 |
| ·光热辐射技术 | 第22-23页 |
| ·检测原理 | 第23-24页 |
| ·胶接缺陷检测数学模型 | 第24-30页 |
| ·激励光透过玻璃层 | 第24-25页 |
| ·胶层光热辐射 | 第25-29页 |
| ·热辐射信号接收 | 第29-30页 |
| ·本章小结 | 第30-31页 |
| 第三章 基于光热辐射成像的缺陷检测仿真分析 | 第31-45页 |
| ·影响检测结果准确性的因素分析 | 第31-35页 |
| ·胶层厚度对检测结果的影响 | 第32-33页 |
| ·厚度线性归一化系数对检测结果的影响 | 第33-34页 |
| ·热源对检测结果影响 | 第34-35页 |
| ·影响检测结果因素总结 | 第35页 |
| ·胶层缺陷检测有限元热分析 | 第35-43页 |
| ·有限元热分析简介 | 第35-36页 |
| ·有限元分析的传热学基础 | 第36-38页 |
| ·热传导方程的有限元解法 | 第38-39页 |
| ·基于 ANSYS 的缺陷检测有限元分析 | 第39-43页 |
| ·本章小结 | 第43-45页 |
| 第四章 实验及结果分析 | 第45-54页 |
| ·实验准备 | 第45-46页 |
| ·实验步骤 | 第46-47页 |
| ·实验结果及温差时域分析 | 第47-53页 |
| ·实验结果 | 第47-48页 |
| ·实验结果温差时域分析 | 第48-52页 |
| ·实验结果分析小结 | 第52-53页 |
| ·本章小结 | 第53-54页 |
| 第五章 光热辐射成像图像处理 | 第54-62页 |
| ·空间域图像增强 | 第54-58页 |
| ·图像亮度变换 | 第55-56页 |
| ·直方图均衡化 | 第56-57页 |
| ·空间滤波 | 第57-58页 |
| ·形态学图像处理 | 第58-59页 |
| ·缺陷边缘检测 | 第59-60页 |
| ·缺陷定量分析原理 | 第60-61页 |
| ·本章小结 | 第61-62页 |
| 第六章 总结 | 第62-64页 |
| 参考文献 | 第64-66页 |
| 作者简介及在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第66页 |
