| 中文摘要 | 第1-8页 |
| ABSTRACT | 第8-11页 |
| 缩写与符号说明 | 第11-12页 |
| 第一章 绪论 | 第12-39页 |
| ·钢、铁表面腐蚀防护研究方法简介 | 第12-13页 |
| ·自组装及其表征技术的概述 | 第13-19页 |
| ·自组装技术简介 | 第13-17页 |
| ·自组装膜的主要表征技术 | 第17-19页 |
| ·自组装技术在金属腐蚀与防护领域的研究概况 | 第19-22页 |
| ·不锈钢表面自组装膜的研究 | 第19-20页 |
| ·纯铁表面自组装膜的研究 | 第20-22页 |
| ·SECM研究概况及其在金属腐蚀与防护领域中的应用 | 第22-29页 |
| ·SECM简介 | 第22-25页 |
| ·SECM在金属腐蚀防护领域中的应用 | 第25-29页 |
| ·本论文主要研究内容和研究意义 | 第29-30页 |
| ·主要研究内容 | 第29页 |
| ·研究目的及意义 | 第29-30页 |
| 参考文献 | 第30-39页 |
| 第二章 实验部分 | 第39-41页 |
| ·电极及溶液 | 第39页 |
| ·自组装膜的制备 | 第39页 |
| ·仪器及方法 | 第39-41页 |
| ·电化学测试 | 第39-40页 |
| ·扫描电化学显微镜(SECM) | 第40页 |
| ·扫描电子显微镜(SEM) | 第40页 |
| ·X射线光电子能谱(XPS) | 第40-41页 |
| 第三章 硫醇自组装膜的XPS表征及其对不锈钢缓蚀作用的电化学研究 | 第41-56页 |
| ·前言 | 第41页 |
| ·自组装膜的XPS表征 | 第41-44页 |
| ·组装参数变化影响自组装膜缓蚀性能的电化学研究 | 第44-50页 |
| ·改变组装时间 | 第44-48页 |
| ·组装分子浓度对膜缓蚀性能的影响 | 第48-50页 |
| ·不同腐蚀介质中自组装膜的缓蚀性能 | 第50-55页 |
| ·本章小结 | 第55-56页 |
| 第四章 不锈钢表面硫醇自组装膜的SECM表征及其缓蚀性能研究 | 第56-64页 |
| ·SECM的参数设置 | 第56-57页 |
| ·覆有自组装膜的不锈钢表面电化学活性的电流反馈表征 | 第57-59页 |
| ·覆有自组装膜的不锈钢表面电化学活性的电化学扫描探针研究 | 第59-63页 |
| ·组装时间的影响 | 第59-61页 |
| ·膜浸泡时间的影响 | 第61页 |
| ·腐蚀介质的影响 | 第61-63页 |
| ·本章小结 | 第63-64页 |
| 第五章 铁表面单一或混合自组装膜的特性及其缓蚀性能研究 | 第64-74页 |
| ·引言 | 第64页 |
| ·自组装膜的SEM表征及其缓蚀性能的电化学研究 | 第64-68页 |
| ·表面形貌表征 | 第64-65页 |
| ·电化学界面特性表征 | 第65-68页 |
| ·SECM表征 | 第68-73页 |
| ·覆有自组装膜的铁表面电化学活性的电流反馈表征 | 第68-70页 |
| ·覆有自组装膜的铁表面电化学活性的电化学扫描探针研究 | 第70-73页 |
| ·本章小结 | 第73-74页 |
| 第六章 总结论 | 第74-76页 |
| 参考文献 | 第76-79页 |
| 致谢 | 第79-80页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第80-81页 |
| 学位论文评阅及答辩情况表 | 第81页 |
