Φ48中子管放电特性的研究
摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-7页 |
目录 | 第7-9页 |
引言 | 第9-10页 |
第一章 论文的意义及展望 | 第10-15页 |
·中子管的研发历史 | 第10-12页 |
·中子管的研发历史和相关应用 | 第10页 |
·中子管的发展现状 | 第10-11页 |
·中子管的广阔应用前景 | 第11-12页 |
·实验意义及前景展望 | 第12-15页 |
·实验意义 | 第12页 |
·实验前景 | 第12-15页 |
第二章 理论基础 | 第15-19页 |
·Ф48 中子管的原理和结构 | 第15-16页 |
·自成靶 | 第15页 |
·离子源结构 | 第15-16页 |
·真空测量知识 | 第16-19页 |
·热偶规的压强测量原理 | 第17页 |
·电离规的压强测量原理 | 第17-19页 |
第三章 Ф48 中子管放电特性实验 | 第19-26页 |
·实验系统的设计 | 第19-20页 |
·实验操作步骤 | 第20-21页 |
·直流状态下Ф48 中子管的放电特性 | 第20页 |
·脉冲状态下中子管的放电特性 | 第20页 |
·“拐点”现象 | 第20-21页 |
·实验数据 | 第21-26页 |
·直流及脉冲状态下的数据 | 第21-24页 |
·“拐点”出现时中子管的各项参数 | 第24-26页 |
第四章 实验数据分析 | 第26-34页 |
·直流状态下的放电特性 | 第26-29页 |
·启辉电流随系统压强的变化 | 第26页 |
·离子源电压与电流的关系 | 第26-28页 |
·系统气压与离子源电流的关系 | 第28-29页 |
·脉冲状态下的放电特性 | 第29-31页 |
·延迟时间与占空比的关系 | 第29-30页 |
·系统气压与延迟时间的关系 | 第30-31页 |
·“拐点”出现的规律:压强与离子源电流的关系 | 第31-34页 |
第五章 “探究Ф48 中子管放电特性”的课程设计 | 第34-36页 |
结论 | 第36-37页 |
参考文献 | 第37-39页 |
致谢 | 第39页 |