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Φ48中子管放电特性的研究

摘要第1-5页
Abstract第5-7页
目录第7-9页
引言第9-10页
第一章 论文的意义及展望第10-15页
   ·中子管的研发历史第10-12页
     ·中子管的研发历史和相关应用第10页
     ·中子管的发展现状第10-11页
     ·中子管的广阔应用前景第11-12页
   ·实验意义及前景展望第12-15页
     ·实验意义第12页
     ·实验前景第12-15页
第二章 理论基础第15-19页
   ·Ф48 中子管的原理和结构第15-16页
     ·自成靶第15页
     ·离子源结构第15-16页
   ·真空测量知识第16-19页
     ·热偶规的压强测量原理第17页
     ·电离规的压强测量原理第17-19页
第三章 Ф48 中子管放电特性实验第19-26页
   ·实验系统的设计第19-20页
   ·实验操作步骤第20-21页
     ·直流状态下Ф48 中子管的放电特性第20页
     ·脉冲状态下中子管的放电特性第20页
     ·“拐点”现象第20-21页
   ·实验数据第21-26页
     ·直流及脉冲状态下的数据第21-24页
     ·“拐点”出现时中子管的各项参数第24-26页
第四章 实验数据分析第26-34页
   ·直流状态下的放电特性第26-29页
     ·启辉电流随系统压强的变化第26页
     ·离子源电压与电流的关系第26-28页
     ·系统气压与离子源电流的关系第28-29页
   ·脉冲状态下的放电特性第29-31页
     ·延迟时间与占空比的关系第29-30页
     ·系统气压与延迟时间的关系第30-31页
   ·“拐点”出现的规律:压强与离子源电流的关系第31-34页
第五章 “探究Ф48 中子管放电特性”的课程设计第34-36页
结论第36-37页
参考文献第37-39页
致谢第39页

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