| 中文摘要 | 第1-8页 |
| 英文摘要 | 第8-10页 |
| 第一章 引言 | 第10-18页 |
| §1．1 衡量磁存储密度的重要参量 | 第11页 |
| §1．2 磁存储材料的发展及研究现状 | 第11-14页 |
| §1．2．1 磁存储材料的分类 | 第11页 |
| §1．2．2 纵向磁化薄膜存储介质 | 第11-13页 |
| §1．2．3 磁化矢量垂直于膜面的磁记录 | 第13-14页 |
| §1．3 数字信息存储理论 | 第14-15页 |
| §1．3．1 写入过程 | 第14页 |
| §1．3．2 读出过程 | 第14-15页 |
| §1．4 本文的研究内容及研究目的 | 第15-17页 |
| 参考文献 | 第17-18页 |
| 第二章 薄膜样品的制备及实验方法 | 第18-26页 |
| §2．1 薄膜样品的制备 | 第18-20页 |
| §2．1．1 磁控溅射的原理 | 第18-19页 |
| §2．1．2 磁控溅射的分类 | 第19-20页 |
| §2．1．3 多层膜样品的制备 | 第20页 |
| §2．2 薄膜样品的测试及原理 | 第20-25页 |
| §2．2．1 结构分析 | 第20-23页 |
| §2．2．2 磁性测量 | 第23页 |
| §2．2．3 成分分析 | 第23-24页 |
| §2．2．4 膜厚测量 | 第24-25页 |
| 参考文献 | 第25-26页 |
| 第三章 Co_（30）Pt_（69）-C和Co_（30）Pt_（37）-C磁性纳米颗粒膜的结构，磁性和内部相互作用的研究 | 第26-46页 |
| §3．1 引言 | 第26-27页 |
| §3．2 实验 | 第27页 |
| §3．3 实验结果和分析 | 第27-43页 |
| §3．3．1 样品的微结构分析 | 第27-31页 |
| §3．3．1．1 XRD分析 | 第28页 |
| §3．3．1．2 电镜分析 | 第28-31页 |
| §3．3．2 样品的磁性分析 | 第31-36页 |
| §3．3．2．1 在700℃退火1小时后的[Co_（30）Pt_（69）8（?）／Cx（?）]_（80）（X=0-12（?））系列样品1的磁性分析 | 第31-33页 |
| §3．3．2．2 在700℃退火1小时后的[Co_（30）Pt_（37）4（?）／Cx（?）]_（80）（X=0-6（?））系列样品的磁性分析 | 第33-34页 |
| §3．3．2．3 矫顽力主要机制的分析 | 第34-36页 |
| §3．3．3 纳米结构样品薄膜内相互作用的研究 | 第36-42页 |
| §3．3．3．1 δM（H）曲线 | 第37-39页 |
| §3．3．3．2 Henkel曲线 | 第39-40页 |
| §3．3．3．3 交换作用与磁偶极作用的实验研究 | 第40-42页 |
| §3．3．4 样品[Ptx（?）／Co2（?）／C12（?）]80退火后的磁性分析 | 第42-43页 |
| §3．4 小结 | 第43-44页 |
| 参考文献 | 第44-46页 |
| 第四章 CoPt_3合金膜的结构和磁性研究 | 第46-54页 |
| §4．1 引言 | 第46页 |
| §4．2 实验 | 第46页 |
| §4．3 实验结果和分析结构分析 | 第46-48页 |
| §4．3．1 结构分析 | 第46-47页 |
| §4．3．2 磁性分析 | 第47-48页 |
| §4．3．3 CoPt_3晶粒的原子力显微镜AFM的观察 | 第48页 |
| §4．3．4 CoPt_3晶粒的磁力显微镜MFM的观察 | 第48页 |
| §4．4 小结 | 第48-53页 |
| 参考文献 | 第53-54页 |
| 结论 | 第54-56页 |
| 附录 | 第56-61页 |
| 致谢 | 第61页 |
