时域脉冲取样头的设计
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-15页 |
| ·课题背景 | 第9-10页 |
| ·研究动态 | 第10-13页 |
| ·高速示波器法 | 第10页 |
| ·电快脉冲取样法 | 第10-11页 |
| ·高速模数转换法 | 第11-12页 |
| ·变换取样法 | 第12-13页 |
| ·研究内容和主要工作 | 第13-15页 |
| 第二章 取样的原理 | 第15-30页 |
| ·取样的分类 | 第15-19页 |
| ·实时取样 | 第15-17页 |
| ·变换取样 | 第17-19页 |
| ·取样门的输出函数 | 第19-21页 |
| ·取样系统的频率特性 | 第21-27页 |
| ·取样系统的过渡特性 | 第27-30页 |
| 第三章 取样头的设计与仿真 | 第30-60页 |
| ·取样头方案的设计 | 第30页 |
| ·高速取样门的仿真与设计 | 第30-39页 |
| ·取样门的方案 | 第30-32页 |
| ·取样门二极管 | 第32-35页 |
| ·高速取样的仿真 | 第35-36页 |
| ·取样门的噪声分析与仿真 | 第36-39页 |
| ·取样脉冲电路的设计 | 第39-51页 |
| ·脉冲发生电路的设计 | 第39-43页 |
| ·脉冲整形电路的仿真与设计 | 第43-51页 |
| ·缓冲放大器的仿真与设计 | 第51-54页 |
| ·运算放大器的选择 | 第51-52页 |
| ·放大器带宽的确定 | 第52-53页 |
| ·缓冲放大器的仿真 | 第53-54页 |
| ·取样头的整体仿真 | 第54-60页 |
| ·取样头的噪声 | 第54-55页 |
| ·取样过程的旁通效应 | 第55-60页 |
| 第四章 取样头的制作与调试 | 第60-71页 |
| ·取样头硬件的设计 | 第60-61页 |
| ·取样头的调试 | 第61-64页 |
| ·取样脉冲产生电路的调试 | 第61-63页 |
| ·取样门的调试 | 第63-64页 |
| ·取样头的测试 | 第64-68页 |
| ·步进采样测量系统 | 第64-65页 |
| ·取样带宽的测量 | 第65-66页 |
| ·输入端VSWR的测量 | 第66-68页 |
| ·输入范围的测量 | 第68页 |
| ·噪声的测量 | 第68-70页 |
| ·雷达的探测成像 | 第70-71页 |
| ·时域雷达波形的测量 | 第70页 |
| ·探地雷达对金属目标的探测 | 第70-71页 |
| 第五章 结束语 | 第71-73页 |
| 致谢 | 第73-74页 |
| 参考文献 | 第74-76页 |
| 攻硕期间取得的研究成果 | 第76页 |
