基于单片机的高精度随钻测斜仪系统开发
摘要 | 第1-6页 |
ABSTRACT | 第6-10页 |
引言 | 第10-14页 |
一、课题研究背景与意义 | 第10-11页 |
二、国内外发展现状 | 第11-12页 |
三、本文研究的主要内容 | 第12-14页 |
1 高精度随钻测斜仪系统的整体方案设计 | 第14-21页 |
·引言 | 第14页 |
·系统待测参数定义及数学模型 | 第14-17页 |
·误差分析 | 第17-18页 |
·敏感轴不正交校正 | 第17-18页 |
·敏感轴与仪器坐标轴不重合校正 | 第18页 |
·系统的组成 | 第18-20页 |
·系统硬件的总体结构 | 第19-20页 |
·系统软件的总体结构 | 第20页 |
·本章小结 | 第20-21页 |
2 高精度随钻测斜仪系统的硬件设计 | 第21-35页 |
·引言 | 第21页 |
·控制核心AT89C51ED2 | 第21-25页 |
·A/D 转换 | 第25-30页 |
·ADC 性能比较选择 | 第25-26页 |
·AD974 性能及其应用 | 第26-30页 |
·液晶显示模块 | 第30-32页 |
·接口方式 | 第32-34页 |
·本章小结 | 第34-35页 |
3 在系统编程ISP | 第35-42页 |
·引言 | 第35页 |
·FLASH EEPROM 存储器 | 第35-36页 |
·在系统编程ISP 的应用 | 第36-41页 |
·本章小结 | 第41-42页 |
4 高精度随钻测斜仪系统的软件设计 | 第42-58页 |
·引言 | 第42页 |
·下位机软件设计 | 第42-53页 |
·编程语言的选择 | 第42-44页 |
·uVision2 集成开发环境 | 第44-45页 |
·各模块编程 | 第45-53页 |
·上位机软件设计 | 第53-57页 |
·工具的选择 | 第53-54页 |
·Active X 控件 | 第54-55页 |
·编程实现 | 第55-57页 |
·本章小结 | 第57-58页 |
5 高精度随钻测斜仪系统的性能测试 | 第58-60页 |
·测试 | 第58-59页 |
·本章小结 | 第59-60页 |
结论 | 第60-61页 |
参考文献 | 第61-64页 |
发表文章目录 | 第64-65页 |
致谢 | 第65-66页 |
详细摘要 | 第66-69页 |