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基于单片机的高精度随钻测斜仪系统开发

摘要第1-6页
ABSTRACT第6-10页
引言第10-14页
 一、课题研究背景与意义第10-11页
 二、国内外发展现状第11-12页
 三、本文研究的主要内容第12-14页
1 高精度随钻测斜仪系统的整体方案设计第14-21页
   ·引言第14页
   ·系统待测参数定义及数学模型第14-17页
   ·误差分析第17-18页
     ·敏感轴不正交校正第17-18页
     ·敏感轴与仪器坐标轴不重合校正第18页
   ·系统的组成第18-20页
     ·系统硬件的总体结构第19-20页
     ·系统软件的总体结构第20页
   ·本章小结第20-21页
2 高精度随钻测斜仪系统的硬件设计第21-35页
   ·引言第21页
   ·控制核心AT89C51ED2第21-25页
   ·A/D 转换第25-30页
     ·ADC 性能比较选择第25-26页
     ·AD974 性能及其应用第26-30页
   ·液晶显示模块第30-32页
   ·接口方式第32-34页
   ·本章小结第34-35页
3 在系统编程ISP第35-42页
   ·引言第35页
   ·FLASH EEPROM 存储器第35-36页
   ·在系统编程ISP 的应用第36-41页
   ·本章小结第41-42页
4 高精度随钻测斜仪系统的软件设计第42-58页
   ·引言第42页
   ·下位机软件设计第42-53页
     ·编程语言的选择第42-44页
     ·uVision2 集成开发环境第44-45页
     ·各模块编程第45-53页
   ·上位机软件设计第53-57页
     ·工具的选择第53-54页
     ·Active X 控件第54-55页
     ·编程实现第55-57页
   ·本章小结第57-58页
5 高精度随钻测斜仪系统的性能测试第58-60页
   ·测试第58-59页
   ·本章小结第59-60页
结论第60-61页
参考文献第61-64页
发表文章目录第64-65页
致谢第65-66页
详细摘要第66-69页

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