中文摘要 | 第1-3页 |
ABSTRACT | 第3-6页 |
第一章 绪论 | 第6-20页 |
·引言 | 第6-7页 |
·有机光电器件简介 | 第7-10页 |
·有机电致发光器件简介 | 第7-9页 |
·有机场效应晶体管简介 | 第9页 |
·有机光伏器件简介 | 第9-10页 |
·有机薄膜与金属界面的特性相关理论 | 第10-17页 |
·有机光电器件结构与有机薄膜/金属界面的关系 | 第10-12页 |
·有机材料的电子结构 | 第12-14页 |
·有机材料与金属界面接触 | 第14-16页 |
·有机薄膜——金属界面电荷转移模型 | 第16-17页 |
·本论文的研究工作内容及意义 | 第17-20页 |
第二章 薄膜制备及特性测量方法 | 第20-36页 |
·薄膜的制备 | 第20-30页 |
·Langmuir Blodgett (LB)膜 | 第20-28页 |
·真空镀膜 | 第28-30页 |
·有机薄膜特性测量方法 | 第30-36页 |
·光二次谐波测量法 | 第30-33页 |
·Kelvin 探针法 | 第33页 |
·电场调制吸收谱法 | 第33-36页 |
第三章 有机薄膜/金属界面光二次谐波产生理论 | 第36-56页 |
·引言 | 第36页 |
·光二次谐波一般理论 | 第36-39页 |
·二次谐波产生的线性过程和非线性过程 | 第39-41页 |
·光二次谐波产生机制 | 第41-43页 |
·有机薄膜/金属界面四层物理模型与理论 | 第43-55页 |
·线性过程 | 第44-48页 |
·非线性过程 | 第48-55页 |
·本章小结 | 第55-56页 |
第四章 有机薄膜/金属界面光二次谐波测量 | 第56-79页 |
·酞菁 | 第56-60页 |
·酞菁概述 | 第56-58页 |
·酞菁在有机发光二极管中的应用 | 第58页 |
·酞菁在有机场效应晶体管中的应用 | 第58-59页 |
·酞菁在气敏传感器中的应用 | 第59-60页 |
·酞菁铜LB 膜/金属界面光二次谐波测量 | 第60-70页 |
·样品制备 | 第60-63页 |
·测量装置调试 | 第63-65页 |
·测量结果 | 第65-68页 |
·机理分析 | 第68-70页 |
·非线性极化率χ~Q 和χ~(dc) 测量与计算 | 第70-74页 |
·SHG 信号强度与LB 膜层数变化的测量与计算 | 第74-75页 |
·SHG 信号强度随入射角度变化的关系的测量与计算 | 第75-78页 |
·本章小结 | 第78-79页 |
第五章 Kelvin 探针法测量有机薄膜/金属界面的特性 | 第79-87页 |
·引言 | 第79-81页 |
·表面电位的测量 | 第81-83页 |
·界面空间电荷密度分布 | 第83-84页 |
·结果分析 | 第84-86页 |
·本章小结 | 第86-87页 |
第六章 电场调制谱法测量有机薄膜/金属界面的特性 | 第87-94页 |
·引言 | 第87页 |
·电场调制吸收谱测量原理 | 第87-89页 |
·样品制备 | 第89页 |
·电场调制吸收谱测量 | 第89-91页 |
·结果分析 | 第91-93页 |
·本章小结 | 第93-94页 |
第七章 全文总结 | 第94-97页 |
参考文献 | 第97-104页 |
攻读博士期间发表的论文与完成科研课题 | 第104-105页 |
致谢 | 第105页 |