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有机超薄膜与金属界面特性测量及其相关理论的研究

中文摘要第1-3页
ABSTRACT第3-6页
第一章 绪论第6-20页
   ·引言第6-7页
   ·有机光电器件简介第7-10页
     ·有机电致发光器件简介第7-9页
     ·有机场效应晶体管简介第9页
     ·有机光伏器件简介第9-10页
   ·有机薄膜与金属界面的特性相关理论第10-17页
     ·有机光电器件结构与有机薄膜/金属界面的关系第10-12页
     ·有机材料的电子结构第12-14页
     ·有机材料与金属界面接触第14-16页
     ·有机薄膜——金属界面电荷转移模型第16-17页
   ·本论文的研究工作内容及意义第17-20页
第二章 薄膜制备及特性测量方法第20-36页
   ·薄膜的制备第20-30页
     ·Langmuir Blodgett (LB)膜第20-28页
     ·真空镀膜第28-30页
   ·有机薄膜特性测量方法第30-36页
     ·光二次谐波测量法第30-33页
     ·Kelvin 探针法第33页
     ·电场调制吸收谱法第33-36页
第三章 有机薄膜/金属界面光二次谐波产生理论第36-56页
   ·引言第36页
   ·光二次谐波一般理论第36-39页
   ·二次谐波产生的线性过程和非线性过程第39-41页
   ·光二次谐波产生机制第41-43页
   ·有机薄膜/金属界面四层物理模型与理论第43-55页
     ·线性过程第44-48页
     ·非线性过程第48-55页
   ·本章小结第55-56页
第四章 有机薄膜/金属界面光二次谐波测量第56-79页
   ·酞菁第56-60页
     ·酞菁概述第56-58页
     ·酞菁在有机发光二极管中的应用第58页
     ·酞菁在有机场效应晶体管中的应用第58-59页
     ·酞菁在气敏传感器中的应用第59-60页
   ·酞菁铜LB 膜/金属界面光二次谐波测量第60-70页
     ·样品制备第60-63页
     ·测量装置调试第63-65页
     ·测量结果第65-68页
     ·机理分析第68-70页
   ·非线性极化率χ~Q 和χ~(dc) 测量与计算第70-74页
   ·SHG 信号强度与LB 膜层数变化的测量与计算第74-75页
   ·SHG 信号强度随入射角度变化的关系的测量与计算第75-78页
   ·本章小结第78-79页
第五章 Kelvin 探针法测量有机薄膜/金属界面的特性第79-87页
   ·引言第79-81页
   ·表面电位的测量第81-83页
   ·界面空间电荷密度分布第83-84页
   ·结果分析第84-86页
   ·本章小结第86-87页
第六章 电场调制谱法测量有机薄膜/金属界面的特性第87-94页
   ·引言第87页
   ·电场调制吸收谱测量原理第87-89页
   ·样品制备第89页
   ·电场调制吸收谱测量第89-91页
   ·结果分析第91-93页
   ·本章小结第93-94页
第七章 全文总结第94-97页
参考文献第97-104页
攻读博士期间发表的论文与完成科研课题第104-105页
致谢第105页

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