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光学干涉法测量表面粗糙度的研究

摘要第1-6页
Abstract第6-9页
第1章 绪论第9-15页
   ·表面粗糙度测量的重要性第9页
   ·表面粗糙度测量的基本概念第9-13页
     ·表面微观几何形状的特征第9页
     ·评定基准-基准线第9-10页
     ·取样长度和评定长度第10-11页
     ·评定表面粗糙度的参数第11页
     ·表面粗糙度测量方法第11-13页
   ·选题的意义第13页
   ·本文的主要工作及内容安排第13-15页
第2章 传统的表面粗糙度测量方法-触针法第15-19页
   ·触针法的测量原理和特点第15-16页
     ·触针和测量力第15-16页
     ·测量基准线第16页
   ·触针式测量仪器(轮廓仪)的主要类型第16-17页
   ·粗糙度参数的测量及处理方法第17-18页
     ·轮廓算术平均偏差的测量第17-18页
     ·轮廓最大高度和微观不平度十点高度的测量第18页
   ·本章小结第18-19页
第3章 测量表面粗糙度的几种光学方法第19-39页
   ·显微干涉法测量表面粗糙度第19-21页
     ·显微干涉法的测量原理和类型第19页
     ·干涉显微镜的使用和调整第19-20页
     ·测量粗糙度的方法第20-21页
   ·光切法测量表面粗糙度第21-23页
     ·光切法测量原理第21-22页
     ·仪器放大倍率的确定第22-23页
   ·光散射法测量表面粗糙度第23-31页
   ·光干涉法测量表面粗糙度第31-35页
   ·光学触针法(HIPOSS)测量表面粗糙度第35-38页
   ·本章小结第38-39页
第4章 偏振干涉方法测量表面粗糙度的理论研究第39-54页
   ·研究偏振系统的数学工具一琼斯矩阵第39-45页
     ·偏振光的矩阵表示第39-41页
     ·常用光学元器件的琼斯矩阵第41-44页
     ·光学系统的矩阵表示第44-45页
     ·琼斯矩阵的本征矢量第45页
   ·偏振干涉原理测量物体表面粗糙度的测量光路与方法第45-47页
   ·偏振干涉方法测量物体表面粗糙度的原理分析第47-53页
   ·本章小结第53-54页
第5章 偏振干涉法测量表面粗糙度的实验研究第54-65页
   ·实验准备第54-61页
     ·偏振片偏振方向的确定第54-55页
     ·四分之一波片快轴的确定第55-60页
     ·二分之一波片快轴方向的确定第60页
     ·透镜焦距的测量及其光心的确定第60-61页
   ·实验研究第61-64页
     ·测量光路系统相位差第61-62页
     ·测量物体表面粗糙度的实验数据及处理第62-64页
     ·讨论第64页
   ·本章小结第64-65页
结论第65-66页
参考文献第66-71页
攻读硕士学位期间发表的论文和取得的科研成果第71-72页
致谢第72页

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