光学干涉法测量表面粗糙度的研究
摘要 | 第1-6页 |
Abstract | 第6-9页 |
第1章 绪论 | 第9-15页 |
·表面粗糙度测量的重要性 | 第9页 |
·表面粗糙度测量的基本概念 | 第9-13页 |
·表面微观几何形状的特征 | 第9页 |
·评定基准-基准线 | 第9-10页 |
·取样长度和评定长度 | 第10-11页 |
·评定表面粗糙度的参数 | 第11页 |
·表面粗糙度测量方法 | 第11-13页 |
·选题的意义 | 第13页 |
·本文的主要工作及内容安排 | 第13-15页 |
第2章 传统的表面粗糙度测量方法-触针法 | 第15-19页 |
·触针法的测量原理和特点 | 第15-16页 |
·触针和测量力 | 第15-16页 |
·测量基准线 | 第16页 |
·触针式测量仪器(轮廓仪)的主要类型 | 第16-17页 |
·粗糙度参数的测量及处理方法 | 第17-18页 |
·轮廓算术平均偏差的测量 | 第17-18页 |
·轮廓最大高度和微观不平度十点高度的测量 | 第18页 |
·本章小结 | 第18-19页 |
第3章 测量表面粗糙度的几种光学方法 | 第19-39页 |
·显微干涉法测量表面粗糙度 | 第19-21页 |
·显微干涉法的测量原理和类型 | 第19页 |
·干涉显微镜的使用和调整 | 第19-20页 |
·测量粗糙度的方法 | 第20-21页 |
·光切法测量表面粗糙度 | 第21-23页 |
·光切法测量原理 | 第21-22页 |
·仪器放大倍率的确定 | 第22-23页 |
·光散射法测量表面粗糙度 | 第23-31页 |
·光干涉法测量表面粗糙度 | 第31-35页 |
·光学触针法(HIPOSS)测量表面粗糙度 | 第35-38页 |
·本章小结 | 第38-39页 |
第4章 偏振干涉方法测量表面粗糙度的理论研究 | 第39-54页 |
·研究偏振系统的数学工具一琼斯矩阵 | 第39-45页 |
·偏振光的矩阵表示 | 第39-41页 |
·常用光学元器件的琼斯矩阵 | 第41-44页 |
·光学系统的矩阵表示 | 第44-45页 |
·琼斯矩阵的本征矢量 | 第45页 |
·偏振干涉原理测量物体表面粗糙度的测量光路与方法 | 第45-47页 |
·偏振干涉方法测量物体表面粗糙度的原理分析 | 第47-53页 |
·本章小结 | 第53-54页 |
第5章 偏振干涉法测量表面粗糙度的实验研究 | 第54-65页 |
·实验准备 | 第54-61页 |
·偏振片偏振方向的确定 | 第54-55页 |
·四分之一波片快轴的确定 | 第55-60页 |
·二分之一波片快轴方向的确定 | 第60页 |
·透镜焦距的测量及其光心的确定 | 第60-61页 |
·实验研究 | 第61-64页 |
·测量光路系统相位差 | 第61-62页 |
·测量物体表面粗糙度的实验数据及处理 | 第62-64页 |
·讨论 | 第64页 |
·本章小结 | 第64-65页 |
结论 | 第65-66页 |
参考文献 | 第66-71页 |
攻读硕士学位期间发表的论文和取得的科研成果 | 第71-72页 |
致谢 | 第72页 |