BDD在组合电路测试中的应用研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-15页 |
| ·电路测试的发展概况 | 第9-11页 |
| ·BDD的优势 | 第11-12页 |
| ·BDD的发展历史 | 第12-14页 |
| ·研究内容和结构安排 | 第14-15页 |
| 第2章 BDD的原理与发展 | 第15-27页 |
| ·相关的术语 | 第15页 |
| ·BDD的定义 | 第15-17页 |
| ·OBDD的定义 | 第17-18页 |
| ·ROBDD的定义 | 第18-19页 |
| ·BDD量排序 | 第19-26页 |
| ·变量排序方法简介 | 第20-22页 |
| ·重量的定义和启发信息 | 第22-23页 |
| ·带有启发信息的DFS的BDD变量排序算法 | 第23-25页 |
| ·实验结果 | 第25-26页 |
| ·本章小结 | 第26-27页 |
| 第3章 BDD包的构造 | 第27-36页 |
| ·BDD的操作 | 第27-32页 |
| ·数据结构 | 第27-28页 |
| ·reduce算法 | 第28页 |
| ·apply算法 | 第28-30页 |
| ·satisfy算法 | 第30-32页 |
| ·ITE算法 | 第32-35页 |
| ·利用ITE算法建立组合电路的BDD | 第33-34页 |
| ·改进ITE算法的措施 | 第34-35页 |
| ·本章小结 | 第35-36页 |
| 第4章 电路测试的基本技术 | 第36-50页 |
| ·电路测试的相关术语 | 第36-39页 |
| ·故障检测 | 第36页 |
| ·故障的分类 | 第36页 |
| ·故障的模型 | 第36-37页 |
| ·测试向量与测试集 | 第37-39页 |
| ·数字电路测试生成的基本算法 | 第39-49页 |
| ·穷举法 | 第39-40页 |
| ·布尔差分法 | 第40-41页 |
| ·单路径敏化法 | 第41-42页 |
| ·D算法 | 第42-45页 |
| ·PODEM算法 | 第45-46页 |
| ·FAN算法 | 第46-49页 |
| ·本章小结 | 第49-50页 |
| 第5章 BDD在组合电路测试中的应用 | 第50-63页 |
| ·BDD测试生成算法简介 | 第50-51页 |
| ·改进的BDD测试生成算法 | 第51-57页 |
| ·测试生成 | 第51-56页 |
| ·举例分析 | 第56-57页 |
| ·测试集的优化 | 第57-60页 |
| ·面向故障的优化 | 第57-58页 |
| ·面向测试矢量的优化 | 第58-59页 |
| ·BDD在测试矢量优化中的应用 | 第59-60页 |
| ·实验结果 | 第60-62页 |
| ·BDD测试生成算法 | 第60-61页 |
| ·BDD测试矢量的优化算法 | 第61-62页 |
| ·本章小结 | 第62-63页 |
| 结论 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-68页 |
| 攻读硕士学位期间所发表的论文 | 第68-69页 |
| 致谢 | 第69页 |
