纳米尺度薄膜屈曲的实验研究
| 中文摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-8页 |
| 第一章 纳米尺度薄膜屈曲研究意义及全文内容介绍 | 第8-12页 |
| ·研究的意义 | 第8-10页 |
| ·本文的主要工作 | 第10-12页 |
| 第二章 薄膜屈曲的研究进展 | 第12-22页 |
| ·屈曲通用的概念及其力学意义 | 第12-13页 |
| ·研究的手段（光学显微镜与原子力显微镜的比较） | 第13页 |
| ·对典型屈曲模式的力学分析 | 第13-16页 |
| ·直线型褶皱 | 第13-15页 |
| ·电话线型屈曲 | 第15-16页 |
| ·圆泡型屈曲 | 第16页 |
| ·原始缺陷的影响 | 第16-17页 |
| ·屈曲模式的相互转变 | 第17-20页 |
| ·由直线型向电话线型屈曲转变的后屈曲过程 | 第18页 |
| ·由电话线型向直线型屈曲转变 | 第18-20页 |
| ·由直线型向泡状屈曲转变 | 第20页 |
| ·柔性基底的分析 | 第20-22页 |
| 第三章 薄膜表面屈曲研究的数字图像分析方法 | 第22-41页 |
| ·实验设备和试件 | 第22-25页 |
| ·实验设备 | 第22-23页 |
| ·实验所用加载装置 | 第23页 |
| ·实验试件及镀膜工艺 | 第23-24页 |
| ·显微镜下尺寸的标定 | 第24-25页 |
| ·实验结果 | 第25-28页 |
| ·实验现象 | 第25-27页 |
| ·直线型褶皱 | 第25-26页 |
| ·圆泡型屈曲 | 第26页 |
| ·后屈曲 | 第26-27页 |
| ·实验中需要克服的问题 | 第27-28页 |
| ·相关计算的原理 | 第28-33页 |
| ·亚临界缺陷的作用 | 第28-29页 |
| ·缺陷位移的计量 | 第29-33页 |
| ·边缘检测：一种滤波与阈值相结合的方法 | 第33-36页 |
| ·处理结果 | 第36-39页 |
| ·直线型褶皱的分析 | 第36-38页 |
| ·圆形泡的分析结果 | 第38-39页 |
| ·分析与结论 | 第39-41页 |
| 第四章 对中加载装置实验 | 第41-55页 |
| ·测量的意义 | 第42-43页 |
| ·压电效应的原理及压电传感器 | 第43-46页 |
| ·压电晶体的原理 | 第43-44页 |
| ·迟滞和蠕变特性 | 第44页 |
| ·压电传感器 | 第44-46页 |
| ·位移的测量 | 第46-51页 |
| ·基本原理 | 第46-47页 |
| ·夹具端面的测量结果 | 第47-50页 |
| ·分析受载荷试件 | 第50-51页 |
| ·对实验结果的分析 | 第51-53页 |
| ·夹具边缘位移误差 | 第51-52页 |
| ·传感器引起的误差 | 第52-53页 |
| ·结论 | 第53-55页 |
| 第五章：总结与展望 | 第55-56页 |
| 参考文献 | 第56-60页 |
| 发表论文和科研情况说明 | 第60-61页 |
| 致谢 | 第61页 |
