| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 目录 | 第6-8页 |
| 第一章 文献综述 | 第8-26页 |
| 1．1 前言 | 第8页 |
| 1．2 疏水力的来源 | 第8-13页 |
| 1．3 疏水力的测量研究 | 第13-23页 |
| 1．4 本文的研究思路及主要研究内容 | 第23-24页 |
| 参考文献 | 第24-26页 |
| 第二章 原子力显微镜(AFM) | 第26-33页 |
| 2．1 基于STM概念上的AFM的发展概述 | 第26-27页 |
| 2．2 AFM的工作原理和工作模式 | 第27-30页 |
| 2．3 AFM的应用 | 第30-32页 |
| 参考文献 | 第32-33页 |
| 第三章 实验方法 | 第33-44页 |
| 3．1 药品 | 第33页 |
| 3．2 疏水性表面的制备 | 第33-38页 |
| 3．2．1 单晶硅表面的预处理 | 第33页 |
| 3．2．2 表面改性反应: OTS自组装单分子膜的制备 | 第33-34页 |
| 3．2．3 样品表面的AFM分析和表面接触角的测定 | 第34-38页 |
| 3．3 胶体探针的制备 | 第38-41页 |
| 3．3．1 玻璃小球的胶体探针的制备 | 第38-39页 |
| 3．3．2 机械法制备胶体探针 | 第39-40页 |
| 3．3．3 化学刻蚀法制胶体探针 | 第40-41页 |
| 3．4 疏水力的测量 | 第41-43页 |
| 参考文献 | 第43-44页 |
| 第四章 结果与讨论 | 第44-62页 |
| 4．1 探针弹性系数的标定 | 第44-48页 |
| 4．2 疏水性作用曲线力 AFM测量的研究 | 第48-61页 |
| 4．2．1 不同方法制得的胶体探针测量结果的比较 | 第48-55页 |
| 4．2．2 关于光干涉现象的说明 | 第55-56页 |
| 4．2．3 在不同的扫描速率下的疏水力的测量 | 第56-59页 |
| 4．2．3 改变溶液浓度环境下的疏水力的研究 | 第59-61页 |
| 参考文献 | 第61-62页 |
| 第五章 结论 | 第62-64页 |
| 5．1 化学刻蚀法制备胶体探针 | 第62页 |
| 5．2 探针弹性系数标定的研究 | 第62-63页 |
| 5．3 疏水性作用力曲线的测量标准 | 第63-64页 |
| 附录一 AFM作用力曲线原始数据处理的方法 | 第64-68页 |
| 附录二 AFM作用力曲线测量过程中测量速度的控制原理 | 第68-69页 |
| 附录三 攻读硕士学位期间参加学术活动与发表论文 | 第69-70页 |
| 致谢 | 第70页 |
