| 第1章 绪论 | 第1-18页 |
| 1．1 现场可编程门阵列FPGA的概述 | 第10-12页 |
| 1．1．1 FPGA的简介 | 第10-11页 |
| 1．1．2 FPGA的发展动态 | 第11-12页 |
| 1．2 FPGA测试技术的发展现状 | 第12-14页 |
| 1．3 可测性设计及边界扫描技术的概述 | 第14-16页 |
| 1．3．1 可测性设计技术 | 第14-15页 |
| 1．3．2 边界扫描测试技术 | 第15-16页 |
| 1．4 课题的意义及本文的主要工作 | 第16-18页 |
| 1．4．1 课题提出的背景及意义 | 第16-17页 |
| 1．4．2 本文的主要工作 | 第17-18页 |
| 第2章 FPGA的结构及其测试技术 | 第18-27页 |
| 2．1 FPGA的结构原理 | 第18-23页 |
| 2．2 FPGA中的测试技术 | 第23-25页 |
| 2．2．1 连线资源的测试 | 第23-24页 |
| 2．2．2 逻辑资源的测试 | 第24-25页 |
| 2．3 本章小结 | 第25-27页 |
| 第3章 边界扫描测试原理与理论 | 第27-39页 |
| 3．1 可测性设计技术基础 | 第27-29页 |
| 3．2 边界扫描技术原理 | 第29-34页 |
| 3．2．1 边界扫描技术的基本原理 | 第29-31页 |
| 3．2．2 边界扫描设计的硬件结构和IEEE 1149．1标准 | 第31-34页 |
| 3．3 边界扫描测试基本理论 | 第34-38页 |
| 3．3．1 基本技术概念 | 第34-36页 |
| 3．3．2 边界扫描测试的数学描述模型 | 第36-38页 |
| 3．4 本章小结 | 第38-39页 |
| 第4章 自适应完备诊断优化算法 | 第39-60页 |
| 4．1 测试优化问题概述 | 第39-46页 |
| 4．1．1 故障诊断的紧凑性问题 | 第40-41页 |
| 4．1．2 故障诊断的完备性问题 | 第41-45页 |
| 4．1．3 测试向量集的构成策略 | 第45-46页 |
| 4．2 自适应完备诊断优化算法 | 第46-58页 |
| 4．2．1 自适应完备诊断的主要思想 | 第47-49页 |
| 4．2．2 现有自适应诊断算法的缺陷 | 第49-52页 |
| 4．2．3 自适应诊断算法的优化 | 第52-56页 |
| 4．2．4 改进后算法的性能分析 | 第56-58页 |
| 4．3 本章小结 | 第58-60页 |
| 第5章 测试仿真模型的设计及算法验证 | 第60-74页 |
| 5．1 FPGA的EDA设计技术及VHDL语言 | 第60-65页 |
| 5．1．1 FPGA的EDA设计技术 | 第60-63页 |
| 5．1．2 VHDL硬件描述语言 | 第63-65页 |
| 5．2 测试仿真模型的设计 | 第65-71页 |
| 5．2．1 测试仿真模型的顶层设计模块划分 | 第65-67页 |
| 5．2．2 边界扫描逻辑的设计与实现 | 第67-70页 |
| 5．2．3 仿真故障网络的设计与实现 | 第70-71页 |
| 5．3 应用测试仿真模型的算法验证 | 第71-72页 |
| 5．4 本章小结 | 第72-74页 |
| 结论 | 第74-75页 |
| 参考文献 | 第75-78页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文和取得的科研成果 | 第78-79页 |
| 致谢 | 第79页 |