STNLCD外观缺陷检测方法研究
| 摘要 | 第1-3页 |
| Abstracts | 第3-5页 |
| 第一章 绪论 | 第5-14页 |
| ·LCD的发展与特点 | 第5-11页 |
| ·LCD的发展过程 | 第5-6页 |
| ·LCD的特点 | 第6-7页 |
| ·LCD的分类 | 第7-8页 |
| ·LCD的工作原理 | 第8-9页 |
| ·超扭曲向列液晶显示器件STN-LCD | 第9-11页 |
| ·LCD缺陷检测技术 | 第11-13页 |
| ·LCD缺陷检测技术简述 | 第11-12页 |
| ·国内外研究现状 | 第12页 |
| ·本课题算法简介 | 第12-13页 |
| ·论文的主要内容 | 第13-14页 |
| 第二章 图像预处理算法 | 第14-39页 |
| ·图像的采集 | 第14-16页 |
| ·模板图像处理 | 第16-39页 |
| ·本征图像的恢复 | 第17-28页 |
| ·图像的二值化处理 | 第28-32页 |
| ·图像的区域标记 | 第32-34页 |
| ·控制点的选取 | 第34-39页 |
| 第三章 STN-LCD缺陷检测算法 | 第39-52页 |
| ·图像的配准 | 第39-48页 |
| ·图像的平移 | 第40-41页 |
| ·对应控制点的选取 | 第41页 |
| ·图像的旋转变换 | 第41-48页 |
| ·对缺陷的判断 | 第48-52页 |
| ·局部的图像配准 | 第48-49页 |
| ·缺陷的检测 | 第49-50页 |
| ·疑似缺陷的恢复 | 第50-52页 |
| 第四章 结果分析 | 第52-59页 |
| ·软件界面 | 第52-53页 |
| ·缺陷定义 | 第53-56页 |
| ·检测方法对比 | 第56-57页 |
| ·缺陷恢复结果 | 第57-58页 |
| ·执行时间 | 第58-59页 |
| 第五章 总结和展望 | 第59-61页 |
| ·现有工作总结 | 第59页 |
| ·将来进一步的工作 | 第59-61页 |
| 参考文献 | 第61-65页 |
| 攻读硕士学位期间己发表或录用的论文 | 第65-66页 |
| 致谢 | 第66页 |