半环形腔主振光放大器技术研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 目录 | 第6-7页 |
| 绪论 | 第7-13页 |
| ·半导体激光器的发展回顾 | 第7-8页 |
| ·环形腔半导体激光器国内外发展状况 | 第8-9页 |
| ·半导体激光放大器概述 | 第9-12页 |
| ·论文研究的目的和内容 | 第12-13页 |
| 第二章 主振功率光放大器(MOPA)的理论分析 | 第13-33页 |
| ·主振动区波动方程 | 第13-15页 |
| ·主振区电学方程 | 第15-20页 |
| ·主振区有源层量子尺寸效应 | 第20-21页 |
| ·锥形放大区 | 第21-22页 |
| ·主振区损耗分析 | 第22-24页 |
| ·边界条件 | 第24-28页 |
| ·数值模拟结果 | 第28-33页 |
| 第三章 光辅助刻蚀的基本原理及其优化 | 第33-43页 |
| ·光辅助刻蚀的基本原理 | 第33-34页 |
| ·能带结构图在光辅助刻蚀过程的影响 | 第34-36页 |
| ·光的波导效应及其相关优化分析 | 第36-40页 |
| ·基片厚度和载流子扩散长度对光辅助刻蚀的影响 | 第40-41页 |
| ·正性光刻胶抗激光腐蚀性能研究 | 第41-43页 |
| 第四章 腐蚀结果及其分析 | 第43-52页 |
| ·半导体激光器的后工艺流程 | 第43-44页 |
| ·光辅助刻蚀基片的制备 | 第44页 |
| ·通过光强强度实现n型衬底边向角θ可控 | 第44-47页 |
| ·p型衬底的刻蚀及其改进方案 | 第47-49页 |
| ·光化学液相次序选择腐蚀 | 第49-52页 |
| 结束语 | 第52-53页 |
| 致谢 | 第53-54页 |
| 参考文献 | 第54-56页 |