智能预处理测试系统结构的电磁兼容性研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-11页 |
| ·论文的研究背景 | 第7页 |
| ·课题来源及意义 | 第7-8页 |
| ·发展现状及关键技术 | 第8-9页 |
| ·测试系统的各项要求及本文的主要工作 | 第9-11页 |
| ·测试系统的各项要求 | 第9页 |
| ·本文的主要工作 | 第9-11页 |
| 第二章 系统电磁兼容特性分析 | 第11-15页 |
| ·系统的构成 | 第11-12页 |
| ·硬件构成 | 第11-12页 |
| ·软件构成 | 第12页 |
| ·系统的电磁兼容要素 | 第12-14页 |
| ·系统所处的电磁环境及要素分析 | 第12-13页 |
| ·被测电台与测试仪和互连电缆问的耦合分析 | 第13-14页 |
| ·系统电磁兼容研究方案 | 第14页 |
| ·本章小结 | 第14-15页 |
| 第三章 智能预处理控制测试仪的电磁兼容设计 | 第15-41页 |
| ·智能预处理控制测试仪的功能介绍 | 第15页 |
| ·智能预处理控制测试仪的线路组成 | 第15-16页 |
| ·智能预处理控制测试仪的结构设计 | 第16-39页 |
| ·屏蔽原理 | 第16-21页 |
| ·电屏蔽 | 第17-19页 |
| ·磁屏蔽 | 第19-20页 |
| ·电磁屏蔽 | 第20-21页 |
| ·机箱结构的定型及各模块间的隔离设计 | 第21-22页 |
| ·机箱材料及厚度的选择 | 第22-23页 |
| ·机箱的屏蔽效能验算 | 第23-24页 |
| ·机箱内各单元盒的屏蔽设计 | 第24-26页 |
| ·机箱内模块所需的屏蔽效能计算 | 第24-26页 |
| ·屏蔽单元盒的屏蔽效能验算 | 第26页 |
| ·缝隙、孔洞的结构设计 | 第26-39页 |
| ·缝隙的结构设计 | 第28页 |
| ·导电衬垫的屏蔽机理 | 第28-30页 |
| ·导电衬垫的屏蔽性能 | 第30-31页 |
| ·导电衬垫的分类及应用 | 第31页 |
| ·测试仪接缝的处理 | 第31-33页 |
| ·屏蔽单元盒与上盖之间的缝隙处理 | 第33页 |
| ·孔洞的结构设计 | 第33-39页 |
| ·智能预处理测试仪的软件设计 | 第39-40页 |
| ·应用软件的功能及性能 | 第39-40页 |
| ·系统软件流程图 | 第40页 |
| ·本章小结 | 第40-41页 |
| 第四章 信号互连系统的电磁兼容设计 | 第41-55页 |
| ·整机线缆串扰机理 | 第41-42页 |
| ·EMC分析与预测 | 第42-44页 |
| ·互连线串扰耦合模型建立 | 第42-44页 |
| ·EMC分析结果 | 第44页 |
| ·整机线缆布线 | 第44页 |
| ·信号互连系统接口线的设计 | 第44-48页 |
| ·接口线技术规格 | 第45-47页 |
| ·电缆屏蔽层与连接器连接方式的影响 | 第47-48页 |
| ·测试电缆的处理 | 第48页 |
| ·信号线、电源线的滤波 | 第48-54页 |
| ·信号滤波器在测试系统中的用途 | 第49页 |
| ·电源线滤波器的作用 | 第49-50页 |
| ·电源线滤波器插入损耗的确定 | 第50-52页 |
| ·滤波器的使用 | 第52-54页 |
| ·本章小结 | 第54-55页 |
| 第五章 整个测试系统的联试 | 第55-61页 |
| ·系统电缆连接 | 第55页 |
| ·系统软件操作 | 第55-59页 |
| ·本章小结 | 第59-61页 |
| 第六章 结束语 | 第61-63页 |
| ·全文总结 | 第61页 |
| ·今后展望 | 第61-63页 |
| 致谢 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-66页 |
