嵌入式存储器的可测性设计及测试算法研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-8页 |
| 第1章 绪论 | 第8-16页 |
| ·课题背景 | 第8-9页 |
| ·可测性设计简述 | 第9-12页 |
| ·可测性设计概念 | 第9-10页 |
| ·可测性设计分类 | 第10-12页 |
| ·嵌入式存储器测试 | 第12-13页 |
| ·嵌入式存储器测试可测性设计 | 第12-13页 |
| ·嵌入式存储器测试算法 | 第13页 |
| ·国内外研究现状 | 第13-15页 |
| ·论文结构 | 第15-16页 |
| 第2章 存储器测试算法分析 | 第16-36页 |
| ·存储器种类及结构 | 第16-19页 |
| ·存储器的种类 | 第16-18页 |
| ·存储器的结构 | 第18-19页 |
| ·存储器故障分析 | 第19-24页 |
| ·存储器固有故障类型 | 第19-23页 |
| ·Flash存储器特有故障类型 | 第23-24页 |
| ·存储器测试算法分析 | 第24-29页 |
| ·存储器测试算法简述 | 第24-25页 |
| ·存储器测试算法分析 | 第25-26页 |
| ·March及其衍生算法分析 | 第26-29页 |
| ·March及其衍生算法仿真 | 第29-35页 |
| ·仿真环境 | 第29页 |
| ·仿真方式 | 第29-32页 |
| ·仿真结果 | 第32-35页 |
| ·本章小结 | 第35-36页 |
| 第3章 内建自测试电路设计 | 第36-48页 |
| ·内建自测试基本结构 | 第36页 |
| ·内建自测试电路结构设计 | 第36-41页 |
| ·基本原理 | 第36-37页 |
| ·BIST控制器 | 第37-39页 |
| ·通用BIST控制器模块设计 | 第39-40页 |
| ·地址生成器 | 第40-41页 |
| ·测试向量生成器 | 第41页 |
| ·比较器 | 第41页 |
| ·仿真验证 | 第41-47页 |
| ·仿真环境 | 第41-42页 |
| ·Verilog HDL语言 | 第42页 |
| ·仿真流程 | 第42-47页 |
| ·本章小结 | 第47-48页 |
| 第4章 多存储器核测试 | 第48-55页 |
| ·IEEE Std. 1500 标准 | 第48-50页 |
| ·IEEE Std. 1500 标准简介 | 第48页 |
| ·测试结构 | 第48-50页 |
| ·多存储器核的测试 | 第50-54页 |
| ·多存储器核测试结构 | 第50-51页 |
| ·并行测试 | 第51-53页 |
| ·仿真验证 | 第53-54页 |
| ·本章小结 | 第54-55页 |
| 结论 | 第55-56页 |
| 参考文献 | 第56-60页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第60-62页 |
| 致谢 | 第62页 |
