基于FPGA的安全SRAM的测试系统的研究与设计

摘要	第1-5页
Abstract	第5-8页
1 绪论	第8-13页
·课题背景和研究意义	第8-10页
·国内外研究现状	第10-11页
·论文结构和主要内容	第11-13页
2 SRAM 数据残留的理论分析及安全策略	第13-25页
·SRAM 数据残留的物理机理	第13-16页
·常见的SRAM 安全隐患的解决方式	第16-17页
·解决安全隐患的两条思路	第17-19页
·安全SRAM 的安全策略	第19-23页
·安全SRAM 的安全性评估	第23页
·本章小结	第23-25页
3 测试系统的方案设计	第25-43页
·安全SRAM 工作原理	第25-30页
·两种验证方式	第30-33页
·测试系统整体架构	第33-34页
·测试平台的搭建	第34-36页
·测试流程的设计	第36-42页
·安全策略的验证结果判断标准	第42页
·本章小结	第42-43页
4 测试系统的实现与结果分析	第43-55页
·测试系统的软硬件实现	第43-47页
·系统各模块的设计	第47-52页
·测试系统的功能仿真与验证	第52-54页
·本章小结	第54-55页
5 总结与展望	第55-57页
·总结	第55页
·展望	第55-57页
致谢	第57-58页
参考文献	第58-60页