| 摘要 | 第5-6页 |
| abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第12-22页 |
| 1.1 引言 | 第12-13页 |
| 1.2 银基触点材料分类 | 第13-15页 |
| 1.2.1 纯金属弥散强化银基触点材料 | 第13-14页 |
| 1.2.2 氧化物弥散强化银基电接触材料 | 第14-15页 |
| 1.3 AgSnO_2电接触材料的制备工艺 | 第15-18页 |
| 1.3.1 粉末冶金法 | 第15-17页 |
| 1.3.2 内氧化法 | 第17-18页 |
| 1.4 影响AgSnO_2电接触材料电寿命的因素 | 第18-19页 |
| 1.4.1 添加剂的影响 | 第18页 |
| 1.4.2 制备工艺的影响 | 第18-19页 |
| 1.4.3 应用条件的影响 | 第19页 |
| 1.5 论文选题意义及主要内容 | 第19-22页 |
| 第二章 材料制备与测试方法 | 第22-30页 |
| 2.1 引言 | 第22页 |
| 2.2 实验原料和仪器 | 第22-23页 |
| 2.2.1 实验所用原料 | 第22-23页 |
| 2.2.2 实验所用仪器 | 第23页 |
| 2.3 实验分析设备 | 第23-26页 |
| 2.3.1 扫描电子显微镜(SEM) | 第23-24页 |
| 2.3.2 X射线衍射仪(XRD) | 第24页 |
| 2.3.3 金相显微镜 | 第24-25页 |
| 2.3.4 差热分析仪(DSC-TGA) | 第25-26页 |
| 2.4 触点性能测试 | 第26-28页 |
| 2.4.1 电学性能测试 | 第26页 |
| 2.4.2 物理性能测试 | 第26-27页 |
| 2.4.3 电寿命测试 | 第27-28页 |
| 2.5 本章小结 | 第28-30页 |
| 第三章 内氧化法制备AgSnO_2电接触材料 | 第30-48页 |
| 3.1 引言 | 第30页 |
| 3.2 合金内氧化法制备材料及物理性能研究 | 第30-38页 |
| 3.2.1 AgSnIn合金材料制备 | 第30-31页 |
| 3.2.2 内氧化工艺研究 | 第31-32页 |
| 3.2.3 内氧化温度及时间对内氧化的影响 | 第32-34页 |
| 3.2.4 内氧化线材后续加工 | 第34-36页 |
| 3.2.5 组织结构对线材力学性能的影响 | 第36-38页 |
| 3.3 粉末内氧化法(POM)制备AgSnO_2电接触材料及物理性能研究 | 第38-46页 |
| 3.3.1 多元素掺杂AgSn合金粉末制备 | 第38-40页 |
| 3.3.2 粉末内氧化工艺探索 | 第40-42页 |
| 3.3.3 内氧化前后颗粒变化 | 第42-45页 |
| 3.3.4 粉末内氧化法(POM)挤压线材物理性能 | 第45-46页 |
| 3.4 本章小结 | 第46-48页 |
| 第四章 水热包覆法(TPM)制备AgSnO_2复合材料 | 第48-56页 |
| 4.1 引言 | 第48页 |
| 4.2 实验机理 | 第48-49页 |
| 4.2.1 水热实验机理 | 第48-49页 |
| 4.2.2 化学包覆机理 | 第49页 |
| 4.3 实验程序设计 | 第49页 |
| 4.4 实验过程 | 第49-50页 |
| 4.5 实验结果及分析 | 第50-54页 |
| 4.5.1 X射线衍射分析 | 第50-52页 |
| 4.5.2 复合粉末SEM分析 | 第52-54页 |
| 4.5.3 金相分析 | 第54页 |
| 4.6 本章小结 | 第54-56页 |
| 第五章 不同工艺制备AgSnO_2电性能研究 | 第56-62页 |
| 5.1 引言 | 第56页 |
| 5.2 模拟开关测试系统测试条件及过程 | 第56页 |
| 5.3 电性能测试结果 | 第56-60页 |
| 5.3.1 不同工艺产品接触电阻分析 | 第56-57页 |
| 5.3.2 不同工艺产品材料腐蚀研究 | 第57-59页 |
| 5.3.3 不同工艺产品材料转移研究 | 第59-60页 |
| 5.4 本章小结 | 第60-62页 |
| 第六章 结论 | 第62-64页 |
| 参考文献 | 第64-70页 |
| 攻读学位期间所获得的相关研究成果 | 第70-72页 |
| 致谢 | 第72-73页 |
