中低放射性废物分层γ扫描检测中效率刻度技术研究
| 摘要 | 第4-5页 |
| abstract | 第5-6页 |
| 1 绪论 | 第9-16页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第9-11页 |
| 1.2 研究现状 | 第11-13页 |
| 1.3 课题来源 | 第13页 |
| 1.4 主要研究内容及取得成果 | 第13-16页 |
| 2 分层γ扫描测试基本原理及放射性废物分类 | 第16-33页 |
| 2.1 γ射线与物质的相互作用 | 第16-20页 |
| 2.2 γ射线束的衰减 | 第20-22页 |
| 2.3 分层γ扫描技术 | 第22-28页 |
| 2.4 放射性废物的分类 | 第28-32页 |
| 2.5 本章小结 | 第32-33页 |
| 3 蒙特卡罗模拟HPGe探测器尺寸参数校正 | 第33-41页 |
| 3.1 蒙特卡罗思想简介 | 第33-34页 |
| 3.2 MCNP程序简介 | 第34页 |
| 3.3 HPGe探测器尺寸参数确定 | 第34-40页 |
| 3.4 本章小结 | 第40-41页 |
| 4 核废物桶分层γ扫描中确定点源径向位置方法 | 第41-47页 |
| 4.1 测量方法 | 第41-43页 |
| 4.2 实验系统 | 第43-44页 |
| 4.3 蒙特卡罗模拟结果及分析 | 第44-45页 |
| 4.4 实验结果及分析 | 第45-46页 |
| 4.5 本章小结 | 第46-47页 |
| 5 分层γ扫描均匀样品填充效率刻度校正方法 | 第47-58页 |
| 5.1 分层γ扫描系统几何模型 | 第47-49页 |
| 5.2 准直器几何因子计算 | 第49-52页 |
| 5.3 探测衰减距离校正 | 第52-54页 |
| 5.4 层间串扰校正 | 第54-56页 |
| 5.5 本章小结 | 第56-58页 |
| 6 分层γ扫描技术中单点源活度分析 | 第58-69页 |
| 6.1 实验测量 | 第58-61页 |
| 6.2 定量分析校正 | 第61-66页 |
| 6.3 结果与分析 | 第66-68页 |
| 6.4 本章小结 | 第68-69页 |
| 结论 | 第69-71页 |
| 致谢 | 第71-73页 |
| 参考文献 | 第73-77页 |
| 攻读硕士学位期间发表的学术论文及研究成果 | 第77页 |
