| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第11-16页 |
| 1.1 课题背景和研究意义 | 第11-12页 |
| 1.2 目前FPGA测试技术的发展趋势和国内外研究现状 | 第12-13页 |
| 1.2.1 传统的硬件测试方法 | 第12页 |
| 1.2.2 基于ATE的测试方法 | 第12页 |
| 1.2.3 基于BIST的测试方法 | 第12-13页 |
| 1.2.4 基于边界扫描的测试方法 | 第13页 |
| 1.3 本课题的研究目的和主要研究内容 | 第13-16页 |
| 1.3.1 研究目的 | 第13-14页 |
| 1.3.2 主要研究内容 | 第14-15页 |
| 1.3.3 论文结构 | 第15-16页 |
| 第二章 Virtex和VirtexⅡ系列FPGA的结构及特性概述 | 第16-24页 |
| 2.1 Virtex和VirtexⅡ系列FPGA的基本结构和工作原理 | 第16-21页 |
| 2.1.1 可编程逻辑功能模块（CLB）的简介 | 第17-18页 |
| 2.1.2 输入/输出功能模块（IOB）的简介 | 第18-19页 |
| 2.1.3 块随机存储器（BRAM）的简介 | 第19-20页 |
| 2.1.4 可编程互联资源（Interconnect Resources）的简介 | 第20-21页 |
| 2.1.5 Capture模块的简介 | 第21页 |
| 2.2 Virtex和VirtexⅡ系列FPGA的配置流程 | 第21-23页 |
| 2.3 本章小结 | 第23-24页 |
| 第三章 基于边界扫描和位流回读的FPGA测试系统 | 第24-41页 |
| 3.1 边界扫描技术原理介绍 | 第24-31页 |
| 3.1.1 边界扫描电路结构 | 第24-25页 |
| 3.1.2 IR指令寄存器 | 第25-27页 |
| 3.1.3 TAP控制器 | 第27-28页 |
| 3.1.4 旁路寄存器和标志寄存器 | 第28-29页 |
| 3.1.5 边界扫描单元 | 第29-31页 |
| 3.2 基于边界扫描和位流回读的FPGA测试系统的架构及测试流程 | 第31-33页 |
| 3.2.1 ChipScope简介 | 第31-32页 |
| 3.2.2 FPGA测试系统的架构及测试流程 | 第32-33页 |
| 3.3 基于边界扫描和位流回读的FPGA测试系统的工作原理 | 第33-40页 |
| 3.3.1 主程序模块 | 第33-35页 |
| 3.3.2 底层驱动模块 | 第35-36页 |
| 3.3.3 位流回读模块 | 第36-37页 |
| 3.3.4 位流解析模块 | 第37-39页 |
| 3.3.5 故障诊断和定位模块 | 第39-40页 |
| 3.4 本章小结 | 第40-41页 |
| 第四章 基于边界扫描和位流回读的FPGA测试系统的扩展和优化 | 第41-63页 |
| 4.1 针对现有FPGA测试系统适用型号的扩展 | 第41-46页 |
| 4.1.1 Virtex系列位流回读以及自动化程序实现 | 第41-44页 |
| 4.1.2 VirtexⅡ系列位流回读以及自动化程序实现 | 第44-46页 |
| 4.2 针对现有FPGA测试系统部分回读功能的实现 | 第46-51页 |
| 4.2.1 部分回读简介 | 第46-48页 |
| 4.2.2 部分回读在现有FPGA测试系统中的实现 | 第48-51页 |
| 4.3 针对现有FPGA测试系统测试流程及可靠性的优化 | 第51-55页 |
| 4.3.1 现有测试系统测试流程的优化 | 第51-54页 |
| 4.3.2 现有测试系统可靠性的提高 | 第54-55页 |
| 4.4 针对现有FPGA测试系统的图形化界面实现 | 第55-59页 |
| 4.5 优化前后的FPGA测试系统的测试实验 | 第59-61页 |
| 4.5.1 测试正确性验证实验 | 第59-60页 |
| 4.5.2 测试速度对比实验 | 第60-61页 |
| 4.5.3 测试可靠性对比实验 | 第61页 |
| 4.6 本章小结 | 第61-63页 |
| 第五章 基于边界扫描的FPGA嵌入式测试系统的实现 | 第63-79页 |
| 5.1 MicroBlazze软核处理器和ARM硬核处理器的介绍和比较 | 第63-64页 |
| 5.2 基于ARM的嵌入式系统硬件平台的搭建 | 第64-72页 |
| 5.2.1 ZedBoard开发板简介 | 第64-66页 |
| 5.2.2 Vivado设计套件简介 | 第66-67页 |
| 5.2.3 嵌入式测试系统数据接.的实现 | 第67-70页 |
| 5.2.4 基于Vivado的嵌入式测试系统硬件环境搭建 | 第70-72页 |
| 5.3 基于嵌入式系统的FPGA测试系统的开发 | 第72-78页 |
| 5.3.1 GPIO控制驱动的实现 | 第72-74页 |
| 5.3.2 边界扫描控制程序的实现 | 第74-75页 |
| 5.3.3 边界扫描控制程序的调试 | 第75-76页 |
| 5.3.4 基于边界扫描的测试系统的实现 | 第76-78页 |
| 5.4 本章小结 | 第78-79页 |
| 第六章 总结与展望 | 第79-81页 |
| 6.1 论文总结 | 第79页 |
| 6.2 研究展望 | 第79-81页 |
| 致谢 | 第81-82页 |
| 参考文献 | 第82-84页 |
| 攻硕期间取得的研究成果 | 第84-85页 |
