| 摘要 | 第3-4页 |
| ABSTRACT | 第4页 |
| 第一章 CR介绍 | 第8-16页 |
| 1.1. CR简介 | 第8页 |
| 1.2. CR的历史 | 第8-10页 |
| 1.3. CR系统的特点 | 第10-11页 |
| 1.4. CR系统基本结构 | 第11页 |
| 1.5. CR的读取过程 | 第11-12页 |
| 1.6. IP板 | 第12-16页 |
| 1.6.1．IP板构造 | 第13页 |
| 1.6.2. 影像IP板光谱特性 | 第13-14页 |
| 1.6.3 影像IP板的时间响应特征- 信号的持续时间 | 第14页 |
| 1.6.4 针形结晶IP板 | 第14-16页 |
| 第二章 CR项目范围和目标 | 第16-20页 |
| 2.1 需求分析和产品定义 | 第16-20页 |
| 2.1.1 CR市场分析 | 第16-17页 |
| 2.1.2 CR指标确定 | 第17-20页 |
| 第三章 CR的技术选型和概要设计 | 第20-52页 |
| 3.1. 光学系统设计 | 第20-37页 |
| 3.1.1. 扫描方式确定 | 第20-21页 |
| 3.1.2. 飞点扫描光学系统的选型 | 第21-22页 |
| 3.1.3. 激光二极管的选型 | 第22-23页 |
| 3.1.4. 激光光源功率和读取速度计算 | 第23-25页 |
| 3.1.5. 激光光斑大小 | 第25页 |
| 3.1.6. 光学系统基本设计 | 第25-27页 |
| 3.1.7. 使用ZEMAX辅助光学设计 | 第27-29页 |
| 3.1.8. 荧光信号收集器的设计 | 第29-33页 |
| 3.1.9. 椭圆收集罩原理 | 第33-34页 |
| 3.1.10. 确定扫描模式和参数 | 第34-37页 |
| 3.2. 机械设计 | 第37-41页 |
| 3.2.1. 光学部分 | 第37页 |
| 3.2.2. 片盒 | 第37-38页 |
| 3.2.3. Slow Scan传送机构 | 第38-41页 |
| 3.3. 电子和嵌入式软件 | 第41-45页 |
| 3.3.1. 激光控制单元 | 第42-43页 |
| 3.3.2. 信号采集单元 | 第43页 |
| 3.3.3. IP板取片和Slow Scan控制单元 | 第43-44页 |
| 3.3.4. 通讯模块 | 第44-45页 |
| 3.4. 控制流程和Firmware设计 | 第45-46页 |
| 3.5. PC控制台程序 | 第46-52页 |
| 3.5.1. 校准 | 第46-47页 |
| 3.5.2. 图像处理 | 第47-51页 |
| 3.5.2.1. 行曲线修正(Line Profile Correction) | 第48-50页 |
| 3.5.2.2. 曝光指数(Exposure Indicator)转换 | 第50-51页 |
| 3.5.3. 数字图像后处理 | 第51-52页 |
| 第四章 图像质量 (Image Quality) | 第52-63页 |
| 4.1 空间分辨率 (Spatial Resolution) | 第52-53页 |
| 4.2 对比度分辨率(Contrast Resolution) | 第53-54页 |
| 4.3 空间精度·空间线性度 | 第54页 |
| 4.4 图像噪声(Image Noise) | 第54页 |
| 4.5 SNR(Signal to Noise Ratio) | 第54-55页 |
| 4.6 CNR(Contrast to Noise Ratio) | 第55页 |
| 4.7 DQE (Detective Quantum Efficiency) | 第55-59页 |
| 4.8 擦除率 | 第59-60页 |
| 4.9 伪影 | 第60页 |
| 4.10图像质量评价工具和方法 | 第60-63页 |
| 4.10.1 WIISE | 第60-61页 |
| 4.10.2 Kodak TQT Phantom | 第61-62页 |
| 4.10.3 Kodak TQT Tool | 第62-63页 |
| 第五章 测试过程和测试数据 | 第63-80页 |
| 5.1 激光功率标定 | 第63-64页 |
| 5.2 光收集效率 | 第64-67页 |
| 5.3 收集罩形状测量 | 第67-69页 |
| 5.4 空间分辨率测试 | 第69-72页 |
| 5.5 对比度分辨率 | 第72-73页 |
| 5.6 行特性修正 (Line Profile Correction) | 第73-75页 |
| 5.7 TQT Phantom Pattern测试 | 第75-77页 |
| 5.8 Slow Scan精度测试 | 第77-78页 |
| 5.9 Flare测试 | 第78-80页 |
| 第六章 总结和展望 | 第80-82页 |
| 6.1 总结 | 第80页 |
| 6.2 进一步工作 | 第80-82页 |
| 6.2.1 光学收集效率 | 第80-81页 |
| 6.2.2 光纤改进 | 第81页 |
| 6.2.3 光路改进 | 第81页 |
| 6.2.4 新技术的采用 | 第81-82页 |
| 参考文献 | 第82-84页 |
| 致谢 | 第84-86页 |
