小型绝对式光电编码器自动检测装置数据采集及控制系统
| 摘要 | 第5-6页 |
| abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第11-21页 |
| 1.1 引言 | 第11页 |
| 1.2 光电编码器的发展现状 | 第11-15页 |
| 1.2.1 光电编码器原理和分类 | 第11-13页 |
| 1.2.2 国外光电编码器发展现状 | 第13-14页 |
| 1.2.3 国内光电编码器发展现状 | 第14-15页 |
| 1.3 光电编码器误差检测技术研究现状 | 第15-19页 |
| 1.3.1 国外误差检测技术研究现状 | 第15-17页 |
| 1.3.2 国内误差检测技术研究现状 | 第17-19页 |
| 1.4 课题的研究背景和意义 | 第19页 |
| 1.5 论文的主要研究内容 | 第19-21页 |
| 第2章 绝对式光电编码器误差分析及检测方法 | 第21-29页 |
| 2.1 引言 | 第21页 |
| 2.2 静态误差分析 | 第21-25页 |
| 2.2.1 直流分量误差 | 第22-23页 |
| 2.2.2 正交性误差 | 第23页 |
| 2.2.3 幅值误差 | 第23-25页 |
| 2.3 动态误差分析 | 第25-27页 |
| 2.3.1 波动引起的延时误差 | 第25-26页 |
| 2.3.2 径向晃动误差 | 第26-27页 |
| 2.4 精度检测方法研究 | 第27-28页 |
| 2.4.1 动态精度检测方法 | 第28页 |
| 2.4.2 静态精度检测方法 | 第28页 |
| 2.5 本章小结 | 第28-29页 |
| 第3章 自动检测装置的构建和精度分析 | 第29-35页 |
| 3.1 自动检测系统技术要求 | 第29页 |
| 3.2 自动检测系统的组成 | 第29-30页 |
| 3.3 检测转台的构建 | 第30-31页 |
| 3.4 数据采集系统的构建 | 第31-32页 |
| 3.5 自动检测装置的精度分析 | 第32-33页 |
| 3.6 本章小结 | 第33-35页 |
| 第4章 转台控制器电路及软件研究 | 第35-49页 |
| 4.1 引言 | 第35页 |
| 4.2 转台控制器电路 | 第35-41页 |
| 4.2.1 稳压电源电路 | 第36-37页 |
| 4.2.2 时钟及复位电路 | 第37-38页 |
| 4.2.3 光耦隔离电路 | 第38-39页 |
| 4.2.4 控制器的PCB设计 | 第39-41页 |
| 4.3 转台控制软件研究 | 第41-48页 |
| 4.3.1 动态精度检测的控制软件 | 第42-46页 |
| 4.3.2 静态精度检测的控制软件 | 第46-48页 |
| 4.4 本章小结 | 第48-49页 |
| 第5章 光电编码器数据采集系统 | 第49-61页 |
| 5.1 引言 | 第49页 |
| 5.2 数据采集系统的接口电路 | 第49-54页 |
| 5.2.1 编码器与FPGA接口电路 | 第50-52页 |
| 5.2.2 USB通信电路 | 第52-53页 |
| 5.2.3 数据采集系统的PCB | 第53-54页 |
| 5.3 数据采集系统的软件 | 第54-59页 |
| 5.3.1 编码器数据采集软件 | 第54-56页 |
| 5.3.2 上位机传输软件 | 第56-59页 |
| 5.4 上位机软件 | 第59页 |
| 5.5 本章总结 | 第59-61页 |
| 第6章 实验结果和分析 | 第61-67页 |
| 6.1 引言 | 第61页 |
| 6.2 实验装置建立 | 第61页 |
| 6.3 检测装置性能测试 | 第61-63页 |
| 6.3.1 同轴误差测量 | 第61-62页 |
| 6.3.2 归零测试 | 第62页 |
| 6.3.3 重复性测试 | 第62-63页 |
| 6.4 编码器动、静态精度检测结果及分析 | 第63-66页 |
| 6.4.1 动态检测结果及分析 | 第63-65页 |
| 6.4.2 静态检测结果及分析 | 第65-66页 |
| 6.5 本章小结 | 第66-67页 |
| 第7章 总结与展望 | 第67-69页 |
| 7.1 引言 | 第67页 |
| 7.2 主要研究成果及结论 | 第67-68页 |
| 7.3 创新点 | 第68页 |
| 7.4 展望 | 第68-69页 |
| 参考文献 | 第69-73页 |
| 致谢 | 第73-75页 |
| 作者简历及攻读学位期间发表的学术论文与研究成果 | 第75页 |
