| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-15页 |
| 1.1 CMOS图像传感器简介 | 第9-11页 |
| 1.2 CIS中模数转换的功能以及发展历史 | 第11-12页 |
| 1.3 选题目的及意义 | 第12-13页 |
| 1.4 论文结构安排 | 第13-15页 |
| 第二章 用于CMOS图像传感器的ADC的理论研究 | 第15-26页 |
| 2.1 应用于CMOS图像传感器中的常用ADC架构分析 | 第15-17页 |
| 2.1.1 芯片级ADC | 第15页 |
| 2.1.2 像素级ADC | 第15-16页 |
| 2.1.3 列级ADC | 第16-17页 |
| 2.2 列级架构ADC的主要性能参数 | 第17-21页 |
| 2.2.1 列级ADC的静态性能参数 | 第17-20页 |
| 2.2.2 ADC主要的动态性能指标 | 第20-21页 |
| 2.3 应用于CMOS图像传感器中的常用列级ADC架构分析 | 第21-25页 |
| 2.3.1 单斜ADC | 第22-23页 |
| 2.3.2 逐次逼近ADC | 第23页 |
| 2.3.3 循环ADC | 第23-24页 |
| 2.3.4 三种列级ADC架构的性能比较 | 第24-25页 |
| 2.4 本章小结 | 第25-26页 |
| 第三章 应用于ADC的时间数字转换器的理论研究 | 第26-36页 |
| 3.1 TDC的基本概念与原理 | 第26-27页 |
| 3.2 适用于ADC的TDC结构分析 | 第27-34页 |
| 3.2.1 直接计数法 | 第27-28页 |
| 3.2.2 单延迟线法 | 第28-29页 |
| 3.2.3 游标卡尺延迟线法 | 第29-31页 |
| 3.2.4 门控环形振荡器法 | 第31-32页 |
| 3.2.5 两步量化法 | 第32-34页 |
| 3.3 基于TDC技术的列级ADC的架构与原理 | 第34-35页 |
| 3.4 本章小结 | 第35-36页 |
| 第四章 基于两步TDC技术的列级ADC设计 | 第36-47页 |
| 4.1 ATC的设计 | 第36-38页 |
| 4.2 ATC中比较器的设计 | 第38-39页 |
| 4.3 TDC的设计 | 第39-42页 |
| 4.4 TDC中GRO的设计 | 第42-43页 |
| 4.5 TDC中VDL的设计 | 第43-45页 |
| 4.6 本章小结 | 第45-47页 |
| 第五章 传输延时误差的校正 | 第47-53页 |
| 5.1 传输延时误差成因 | 第47-48页 |
| 5.2 传输延时误差分析 | 第48-49页 |
| 5.3 传输延时误差校正 | 第49-52页 |
| 5.4 本章小结 | 第52-53页 |
| 第六章 版图设计与仿真分析 | 第53-60页 |
| 6.1 版图设计 | 第53-54页 |
| 6.2 仿真分析 | 第54-59页 |
| 6.3 本章小结 | 第59-60页 |
| 第七章 总结与展望 | 第60-62页 |
| 7.1 工作总结 | 第60-61页 |
| 7.2 工作展望 | 第61-62页 |
| 参考文献 | 第62-66页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第66-67页 |
| 致谢 | 第67-68页 |