光腔衰荡光谱测量分子饱和吸收
摘要 | 第5-6页 |
ABSTRACT | 第6页 |
第一章 背景介绍 | 第9-25页 |
1.1 分子跃迁频率测量 | 第9-14页 |
1.1.1 分子频率标准 | 第9-10页 |
1.1.2 检验量子电动力学 | 第10页 |
1.1.3 测量质子/电子质量比及其变化 | 第10-13页 |
1.1.4 探测弱相互作用中的宇称破缺 | 第13-14页 |
1.2 饱和吸收光谱 | 第14-19页 |
1.3 光腔衰荡光谱技术 | 第19-25页 |
1.3.1 光学谐振腔 | 第19-21页 |
1.3.2 光腔衰荡光谱 | 第21-25页 |
第二章 光腔衰荡光谱实验装置 | 第25-45页 |
2.1 RD腔体及控温 | 第25-27页 |
2.2 实验装置 | 第27-33页 |
2.2.1 光路 | 第27-28页 |
2.2.2 系统灵敏度测试 | 第28页 |
2.2.3 激光频率测量 | 第28-33页 |
2.3 光谱测量 | 第33-45页 |
2.3.1 多普勒频移效应 | 第33-36页 |
2.3.2 实验装置 | 第36-38页 |
2.3.3 实验结果 | 第38-41页 |
2.3.4 总结 | 第41-45页 |
第三章 C_2H_2饱和吸收光谱 | 第45-61页 |
3.1 研究背景 | 第45页 |
3.2 锁频光腔衰荡光谱 | 第45-61页 |
3.2.1 实验装置 | 第45-50页 |
3.2.2 P(5)谱线光谱测量 | 第50-55页 |
3.2.3 v_1+3v_3振动带谱线光谱测量 | 第55-59页 |
3.2.4 总结 | 第59-61页 |
第四章 HD饱和吸收光谱 | 第61-89页 |
4.1 背景介绍 | 第61-68页 |
4.1.1 研究意义 | 第61页 |
4.1.2 研究进展 | 第61-67页 |
4.1.3 氢分子光谱测量质子/电子质量比 | 第67-68页 |
4.2 锁频光腔衰荡光谱 | 第68-89页 |
4.2.1 跃迁选择 | 第68-69页 |
4.2.2 实验装置 | 第69-72页 |
4.2.3 HD多普勒光谱测量 | 第72-77页 |
4.2.4 HD饱和吸收光谱测量 | 第77-83页 |
4.2.5 结果分析 | 第83-87页 |
4.2.6 下一步的工作计划 | 第87-89页 |
Bibliography | 第89-95页 |
致谢 | 第95-97页 |
在读期间参与发表的学术论文 | 第97-98页 |