利用阴影几何进行度量测量及伪区域检验
| 摘要 | 第3-4页 |
| ABSTRACT | 第4-5页 |
| 第一章 绪论 | 第8-17页 |
| 1.1 项目背景及研究意义 | 第8-10页 |
| 1.1.1 项目背景 | 第8-9页 |
| 1.1.2 研究意义 | 第9-10页 |
| 1.2 数字图像鉴定技术的国内外现状 | 第10-15页 |
| 1.3 本文的研究内容及论文结构 | 第15-17页 |
| 1.3.1 论文研究内容 | 第15-16页 |
| 1.3.2 论文结构安排 | 第16-17页 |
| 第二章 相关概念综述 | 第17-28页 |
| 2.1 摄像机模型简述 | 第17-20页 |
| 2.1.1 射影摄像机 | 第17-20页 |
| 2.2 恢复摄像机矩阵 | 第20-23页 |
| 2.2.1 平面到平面的单映 | 第20页 |
| 2.2.2 简化摄像机矩阵的求解 | 第20-21页 |
| 2.2.3 一般摄像机矩阵的求解 | 第21-23页 |
| 2.3 摄像机标定与绝对二次曲线的图像 | 第23-24页 |
| 2.3.1 绝对二次曲线的图像 | 第23-24页 |
| 2.3.2 由? 确定欧氏坐标系下的角度 | 第24页 |
| 2.4 消影点和消影线 | 第24-28页 |
| 2.4.1 消影点 | 第25页 |
| 2.4.2 消影线 | 第25-26页 |
| 2.4.3 由消影点确定两条景物直线之间的夹角 | 第26页 |
| 2.4.4 由消影点和消影线确定标定K | 第26-28页 |
| 第三章 从单视图中获得物体的度量信息 | 第28-36页 |
| 3.1 高度的测量 | 第28-32页 |
| 3.1.1 利用成像几何的方法 | 第29-31页 |
| 3.1.2 基于平面单应的方法 | 第31-32页 |
| 3.2 空间点坐标的求解 | 第32-36页 |
| 第四章 利用阴影几何获得物体度量信息 | 第36-44页 |
| 4.1 阴影透视几何 | 第36-37页 |
| 4.1.1 投影法 | 第36-37页 |
| 4.1.2 平行投影法的投影特性 | 第37页 |
| 4.2 高度的测量 | 第37-38页 |
| 4.3 孤立空间点坐标的求解 | 第38-42页 |
| 4.3.1 孤立空间点到地面垂直投影点的求解 | 第38-40页 |
| 4.3.2 空间点坐标的求解 | 第40-42页 |
| 4.4 阴影几何 | 第42-44页 |
| 第五章 实验结果验证 | 第44-52页 |
| 5.1 度量测量方法 | 第44-48页 |
| 5.1.1 相对误差 | 第44-45页 |
| 5.1.2 高度的测量 | 第45-47页 |
| 5.1.3 空间坐标点的求解 | 第47-48页 |
| 5.2 伪区域检验 | 第48-52页 |
| 5.2.1 假设检验 | 第48-49页 |
| 5.2.2 图像真伪性鉴定 | 第49-52页 |
| 第六章 结束语 | 第52-54页 |
| 6.1 论文总结 | 第52-53页 |
| 6.2 下一步工作展望 | 第53-54页 |
| 参考文献 | 第54-57页 |
| 致谢 | 第57页 |
