| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 图录 | 第10-12页 |
| 表录 | 第12-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-21页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第13-15页 |
| 1.1.1 研究背景 | 第13-14页 |
| 1.1.2 研究意义 | 第14-15页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第15-18页 |
| 1.3 论文研究内容与工作 | 第18-19页 |
| 1.4 论文组织结构 | 第19-21页 |
| 第二章 边界扫描技术 | 第21-31页 |
| 2.1 边界扫描技术的原理分析 | 第21-26页 |
| 2.1.1 边界扫描技术标准 | 第21-22页 |
| 2.1.2 边界扫描结构 | 第22-25页 |
| 2.1.3 边界扫描指令 | 第25页 |
| 2.1.4 边界扫描描述语言 | 第25页 |
| 2.1.5 边界扫描技术的特点 | 第25-26页 |
| 2.2 边界扫描技术在板级故障诊断中的应用 | 第26-29页 |
| 2.2.1 完整性测试 | 第26页 |
| 2.2.2 器件标志码测试 | 第26-27页 |
| 2.2.3 用户标志码测试 | 第27页 |
| 2.2.4 互连测试 | 第27页 |
| 2.2.5 簇测试 | 第27-28页 |
| 2.2.6 存储器测试 | 第28页 |
| 2.2.7 程序注入测试 | 第28-29页 |
| 2.3 边界扫描测试诊断系统涉及的关键问题 | 第29-30页 |
| 2.3.1 互连测试算法 | 第29页 |
| 2.3.2 非BS器件的测试 | 第29-30页 |
| 2.3.3 软件架构设计 | 第30页 |
| 2.4 本章小结 | 第30-31页 |
| 第三章 抗混淆自适应测试算法 | 第31-45页 |
| 3.1 基础知识 | 第31-33页 |
| 3.1.1 故障类型 | 第31-32页 |
| 3.1.2 基本定义 | 第32-33页 |
| 3.2 现有互连测试算法 | 第33-36页 |
| 3.2.1 测试向量生成算法 | 第34-36页 |
| 3.2.2 自适应测试算法 | 第36页 |
| 3.3 抗混淆自适应测试算法 | 第36-39页 |
| 3.3.1 走步算法的改进方案 | 第36-38页 |
| 3.3.2 抗混淆自适应测试算法 | 第38-39页 |
| 3.4 算法分析与比较 | 第39-43页 |
| 3.5 本章小结 | 第43-45页 |
| 第四章 非BS器件的模型化分类测试方法 | 第45-59页 |
| 4.1 测试模型的建立 | 第45-50页 |
| 4.1.1 可达器件和非可达器件 | 第45-47页 |
| 4.1.2 可达模型 | 第47-48页 |
| 4.1.3 簇模型 | 第48-50页 |
| 4.2 基于模型化分类的测试方法 | 第50-51页 |
| 4.2.1 测试流程 | 第50页 |
| 4.2.2 逻辑簇测试 | 第50-51页 |
| 4.2.3 非簇可达器件测试 | 第51页 |
| 4.3 性能分析 | 第51-57页 |
| 4.3.1 被测板的可达模型 | 第52-53页 |
| 4.3.2 被测板的簇测试模型 | 第53-54页 |
| 4.3.3 簇可达节点的测试 | 第54-55页 |
| 4.3.4 非簇可达节点的测试 | 第55-57页 |
| 4.4 本章小结 | 第57-59页 |
| 第五章 基于Tcl脚本的边界扫描测试诊断方法 | 第59-65页 |
| 5.1 现有边界扫描测试系统软件架构 | 第59页 |
| 5.2 基于Tcl脚本的边界扫描测试 | 第59-62页 |
| 5.2.1 建立Tcl扩展库 | 第59-61页 |
| 5.2.2 Tcl扩展命令与边界扫描控制器的通信 | 第61-62页 |
| 5.3 测试分析 | 第62-64页 |
| 5.4 本章小结 | 第64-65页 |
| 第六章 基于边界扫描的故障测试诊断系统的设计与实现 | 第65-85页 |
| 6.1 系统结构 | 第65-66页 |
| 6.2 硬件基础 | 第66-69页 |
| 6.2.1 边界扫描控制器 | 第66-67页 |
| 6.2.2 边界扫描扩展板 | 第67-69页 |
| 6.3 软件设计与实现 | 第69-75页 |
| 6.3.1 软件设计 | 第69-72页 |
| 6.3.2 软件实现 | 第72-75页 |
| 6.4 系统测试及结果分析 | 第75-84页 |
| 6.4.1 测试环境 | 第75-77页 |
| 6.4.2 测试方案 | 第77页 |
| 6.4.3 测试步骤与结果分析 | 第77-84页 |
| 6.5 本章小结 | 第84-85页 |
| 结束语 | 第85-87页 |
| 致谢 | 第87-89页 |
| 参考文献 | 第89-93页 |
| 附录 | 第93-103页 |
| 作者简历 | 第103页 |