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Android应用缺陷分析方法研究

摘要第4-5页
ABSTRACT第5-6页
第一章 绪论第10-15页
    1.1 研究背景与意义第10-11页
    1.2 国内外研究现状第11-13页
        1.2.1 静态检测技术现状第11-12页
        1.2.2 动态检测技术现状第12-13页
    1.3 论文研究内容第13-14页
    1.4 论文组织架构第14-15页
第二章 Android平台概述第15-21页
    2.1 Android系统架构第15-17页
    2.2 Android安全机制研究第17-18页
    2.3 Android应用程序第18-20页
        2.3.1 Android应用程序结构第18-19页
        2.3.2 Android应用程序开发工程第19-20页
    2.4 本章小结第20-21页
第三章 Android应用缺陷分析方法研究第21-37页
    3.1 方法流程第21-22页
    3.2 应用缺陷检测方法研究第22-29页
        3.2.1 应用预处理第23-24页
        3.2.2 函数调用图第24-26页
        3.2.3 数据流分析第26-27页
        3.2.4 缺陷规则库第27-28页
        3.2.5 缺陷分析器第28-29页
    3.3 应用软件分类第29-30页
    3.4 应用缺陷触发模型方法研究第30-36页
        3.4.1 应用缺陷库构建第31-33页
        3.4.2 应用缺陷触发检测第33-34页
        3.4.3 机器学习第34-36页
    3.5 本章小结第36-37页
第四章 Android应用缺陷分析系统设计与实现第37-57页
    4.1 系统总体设计第37-40页
        4.1.1 系统架构设计第37-39页
        4.1.2 系统部署情况第39-40页
    4.2 数据获取子系统第40-42页
    4.3 应用缺陷检测子系统第42-48页
        4.3.1 应用预处理模块第43-45页
        4.3.2 函数调用图模块第45-46页
        4.3.3 数据流分析模块第46-48页
        4.3.4 缺陷分析器模块第48页
    4.4 应用缺陷触发模型子系统第48-54页
        4.4.1 应用缺陷构建模块第48-49页
        4.4.2 应用缺陷触发检测模块第49-52页
        4.4.3 机器学习模块第52-54页
    4.5 数据存储子系统第54-56页
    4.6 本章小结第56-57页
第五章 系统测试与验证第57-67页
    5.1 系统测试流程第57-63页
        5.1.1 样本获取第57-59页
        5.1.2 样本检测第59-60页
        5.1.3 触发检测第60-62页
        5.1.4 运行性能分析第62-63页
    5.2 系统验证流程第63-65页
        5.2.1 验证方案设计第63-64页
        5.2.2 实验数据获取第64-65页
        5.2.3 实验及结果分析第65页
    5.3 本章小结第65-67页
第六章 总结与展望第67-69页
    6.1 工作总结第67-68页
    6.2 下一步研究工作第68-69页
参考文献第69-72页
致谢第72-73页
攻读学位期间发表的学术论文第73页

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