| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-11页 |
| 第1章 绪论 | 第11-23页 |
| ·选题背景与研究意义 | 第11-13页 |
| ·选题背景 | 第11-12页 |
| ·研究意义 | 第12-13页 |
| ·国内外研究现状 | 第13-19页 |
| ·裂隙研究现状 | 第13-14页 |
| ·裂隙检测研究现状 | 第14-17页 |
| ·裂隙灌浆评价研究现状 | 第17-19页 |
| ·研究内容与技术路线 | 第19-21页 |
| ·研究内容 | 第19-20页 |
| ·技术路线 | 第20-21页 |
| ·创新性研究成果 | 第21页 |
| ·章节安排 | 第21-23页 |
| 第2章 室内裂隙模型与岩石露头裂隙无损检测模拟试验 | 第23-71页 |
| ·裂隙表征指标 | 第23-24页 |
| ·无损检测方法 | 第24-28页 |
| ·超声波法 | 第25页 |
| ·电阻率微测深法 | 第25-26页 |
| ·探地雷达 | 第26-27页 |
| ·近景摄影法 | 第27-28页 |
| ·快速测量法 | 第28页 |
| ·裂隙模型模拟试验 | 第28-48页 |
| ·裂隙模型制备 | 第28-30页 |
| ·超声波法模拟试验 | 第30-41页 |
| ·电阻率法正演模拟 | 第41-44页 |
| ·探地雷达模拟试验 | 第44-48页 |
| ·北京军庄砂岩裂隙无损检测试验 | 第48-70页 |
| ·区域概况 | 第48-49页 |
| ·测区选择及工程布置 | 第49页 |
| ·超声波法试验 | 第49-57页 |
| ·电阻率微测深法试验 | 第57-61页 |
| ·探地雷达试验 | 第61-64页 |
| ·近景摄影法试验 | 第64-70页 |
| ·本章小结 | 第70-71页 |
| 第3章 云冈石窟表层裂隙无损检测与灌浆加固效果评价 | 第71-110页 |
| ·云冈石窟区域地质及裂隙特征 | 第71-74页 |
| ·云冈石窟区域地质 | 第71-72页 |
| ·云冈石窟裂隙特征 | 第72-74页 |
| ·云冈石窟表层裂隙无损检测 | 第74-92页 |
| ·测区选择及工程布置 | 第74-76页 |
| ·超声波法检测 | 第76-82页 |
| ·电阻率微测深法检测 | 第82-84页 |
| ·探地雷达检测 | 第84-90页 |
| ·近景摄影法检测 | 第90-92页 |
| ·云冈石窟裂隙灌浆效果检测与评价 | 第92-109页 |
| ·灌浆加固评价指标 | 第92-93页 |
| ·灌浆裂隙的选择 | 第93页 |
| ·灌浆材料与施工 | 第93-95页 |
| ·灌浆效果检测与评价 | 第95-109页 |
| ·本章小结 | 第109-110页 |
| 第4章 表层裂隙与灌浆效果无损检测方法评价 | 第110-122页 |
| ·数据质量检查与评价 | 第110-115页 |
| ·超声波法 | 第110-114页 |
| ·电阻率微测深法 | 第114-115页 |
| ·探地雷达 | 第115页 |
| ·无损检测技术方法评价 | 第115-120页 |
| ·超声波法 | 第115-116页 |
| ·电阻率微测深法 | 第116-117页 |
| ·探地雷达 | 第117-118页 |
| ·近景摄影法 | 第118页 |
| ·快速检测法 | 第118-120页 |
| ·无损检测技术方法分类 | 第120页 |
| ·无损检测方案与方法体系 | 第120-121页 |
| ·本章小结 | 第121-122页 |
| 第5章 结论与建议 | 第122-124页 |
| ·结论 | 第122-123页 |
| ·建议 | 第123-124页 |
| 致谢 | 第124-125页 |
| 参考文献 | 第125-132页 |
| 附录 1 附图 | 第132-176页 |
| 附录 2 个人简历 | 第176-177页 |
| 附录 3 攻读博士学位期间科研情况 | 第177-178页 |
| 附录 4 攻读博士学位期间发表论文情况 | 第178页 |