| 致谢 | 第6-8页 |
| 摘要 | 第8-9页 |
| Abstract | 第9-10页 |
| 1 绪论 | 第16-32页 |
| 1.1 研究背景 | 第16-17页 |
| 1.2 影响激光频率的因素 | 第17-19页 |
| 1.2.1 温度变化 | 第17-18页 |
| 1.2.2 机械振动 | 第18页 |
| 1.2.3 磁场影响 | 第18-19页 |
| 1.3 描述激光频率的稳定性 | 第19页 |
| 1.4 激光的线宽 | 第19-23页 |
| 1.4.1 均匀增宽 | 第20-22页 |
| 1.4.2 非均匀增宽 | 第22-23页 |
| 1.5 EOM中的剩余幅度调制 | 第23-24页 |
| 1.6 国内外实验室对RAM的抑制工作 | 第24-26页 |
| 1.7 主动稳频法和被动稳频法 | 第26-30页 |
| 1.7.1 锁定到原子跃迁中心频率 | 第27-28页 |
| 1.7.2 锁定到分子或原子的吸收线 | 第28-30页 |
| 1.7.3 锁定到光学谐振腔的谐振频率 | 第30页 |
| 1.8 论文主要内容介绍 | 第30-32页 |
| 2 Pound-Drever-Hall（PDH）稳频技术 | 第32-45页 |
| 2.1 PDH稳频技术原理 | 第32-36页 |
| 2.2 F-P腔的技术参数 | 第36-37页 |
| 2.2.1 自由光谱范围 | 第36页 |
| 2.2.2 F-P腔的线宽 | 第36-37页 |
| 2.2.3 精细度 | 第37页 |
| 2.2.4 Q值 | 第37页 |
| 2.3 影响F-P腔腔长的因素 | 第37-38页 |
| 2.3.1 温度起伏 | 第37-38页 |
| 2.3.2 振动 | 第38页 |
| 2.3.3 折射率的变化 | 第38页 |
| 2.4 利用PDH稳频系统锁定 689 nm单模激光频率 | 第38-44页 |
| 2.4.1 实验装置 | 第39-40页 |
| 2.4.2 实验参数和锁定结果 | 第40-44页 |
| 2.5 剩余幅度调制对PDH稳频的影响 | 第44页 |
| 2.6 小结 | 第44-45页 |
| 3 EOM中的剩余幅度调制 | 第45-69页 |
| 3.1 电光调制的物理基础 | 第45-51页 |
| 3.2 剩余幅度调制产生的原因分析 | 第51-53页 |
| 3.3 影响剩余幅度调制的参数 | 第53-68页 |
| 3.3.1 类F-P效应 | 第58-59页 |
| 3.3.2 光电探测器接收的光斑大小 | 第59-61页 |
| 3.3.3 激光入射EOM的角度 | 第61-62页 |
| 3.3.4 EOM的温度 | 第62-65页 |
| 3.3.5 振动 | 第65-68页 |
| 3.4 小结 | 第68-69页 |
| 4 主动抑制剩余幅度调制研究 | 第69-77页 |
| 4.1 理论分析 | 第69-71页 |
| 4.2 主动式RAM噪声伺服控制系统 | 第71-75页 |
| 4.2.1 实验装置 | 第72-73页 |
| 4.2.2 实验结果 | 第73-75页 |
| 4.3 实验结论 | 第75页 |
| 4.4 小结 | 第75-77页 |
| 5 总结与展望 | 第77-79页 |
| 5.1 本论文工作总结 | 第77-78页 |
| 5.2 展望 | 第78-79页 |
| 参考文献 | 第79-83页 |
| 作者简历 | 第83页 |