| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-17页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第9页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第9-16页 |
| 1.2.1 激光粒度仪的光学结构 | 第10-14页 |
| 1.2.2 激光粒度仪的数据反演算法 | 第14-16页 |
| 1.3 本文的主要内容 | 第16-17页 |
| 第二章 颗粒测量的基本概念 | 第17-22页 |
| 2.1 颗粒的等效粒径 | 第17-18页 |
| 2.2 颗粒的粒度表征 | 第18-19页 |
| 2.2.1 粒度分布概念 | 第18页 |
| 2.2.2 特征粒径 | 第18-19页 |
| 2.3 常见的颗粒测量参数 | 第19-20页 |
| 2.4 不相关散射与相关散射以及单散射与复散射 | 第20-22页 |
| 2.4.1 不相关散射与相关散射 | 第20页 |
| 2.4.2 单散射与复散射 | 第20-22页 |
| 第三章 光学模型的适用范围 | 第22-33页 |
| 3.1 光散射理论模型 | 第22-25页 |
| 3.1.1 Mie氏光散射理论 | 第22-23页 |
| 3.1.2 夫琅禾费衍射理论 | 第23-25页 |
| 3.2 Mie氏光散射理论描述颗粒散射的复杂性 | 第25-26页 |
| 3.2.1 Mie氏光散射理论系数的数值计算 | 第25页 |
| 3.2.2 从Mie氏光散射到夫琅禾费衍射 | 第25-26页 |
| 3.3 夫琅禾费衍射理论描述述颗粒散射的局限性 | 第26-28页 |
| 3.3.1 电磁场边界条件 | 第27页 |
| 3.3.2 基尔霍夫衍射边界条件 | 第27-28页 |
| 3.3.3 分析与讨论 | 第28页 |
| 3.4 数值模拟分析与结果讨论 | 第28-33页 |
| 3.4.1 小粒径颗粒采用Mie氏散射理论描述的必要性 | 第28-30页 |
| 3.4.2 大粒径颗粒采用夫琅禾费衍射理论描述的有效性 | 第30-32页 |
| 3.4.3 光散射理论的合理选择 | 第32-33页 |
| 第四章 基于线阵CCD探测器的激光粒度仪系统结构 | 第33-41页 |
| 4.1 激光粒度仪的基本测量原理 | 第33-34页 |
| 4.2 基于线阵CCD探测器的激光粒度仪光学结构 | 第34-36页 |
| 4.3 基于线阵CCD探测器的激光粒度测量系统设计 | 第36-41页 |
| 4.3.1 傅里叶透镜焦距的的合理选择 | 第36-37页 |
| 4.3.2 样品池距傅里叶透镜之间的轴向距离 | 第37-38页 |
| 4.3.3 散射角划分及颗粒粒级的确定 | 第38-41页 |
| 第五章 改进正则化算法反演颗粒粒度分布 | 第41-51页 |
| 5.1 算法基本原理 | 第41-42页 |
| 5.2 正则化算法参数研究 | 第42-45页 |
| 5.2.1 正则化算子选择 | 第42-43页 |
| 5.2.2 正则化参数选择 | 第43-45页 |
| 5.3 逐次超松弛迭代法 | 第45页 |
| 5.4 改进正则化算法步骤 | 第45-46页 |
| 5.5 实验分析与讨论 | 第46-51页 |
| 5.5.1 实验数据处理 | 第47-48页 |
| 5.5.2 实验结果分析 | 第48-51页 |
| 第六章 近似非负约束Chin-Shifrin积分变换反演算法 | 第51-66页 |
| 6.1 Chin-Shifrin算法原理 | 第51-53页 |
| 6.2 Chin-Shifrin算法存在的问题 | 第53-54页 |
| 6.2.1 反演多假峰分布问题 | 第53页 |
| 6.2.2 噪声对Chin-Shifrin反演算法的影响 | 第53-54页 |
| 6.3 改进Chin-Shifrin算法 | 第54-57页 |
| 6.4 改进算法的稳定性分析 | 第57-59页 |
| 6.5 实验分析与讨论 | 第59-66页 |
| 6.5.1 实验数据处理 | 第59-61页 |
| 6.5.2 实验结果分析 | 第61-66页 |
| 第七章 总结与展望 | 第66-68页 |
| 7.1 总结 | 第66页 |
| 7.2 展望 | 第66-68页 |
| 参考文献 | 第68-71页 |
| 在读期间公开发表的论文 | 第71-72页 |
| 致谢 | 第72页 |
