基于SPDC的光子探测器性能测试和分析
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-24页 |
| ·引言 | 第10页 |
| ·绝对辐射定标技术的发展 | 第10-14页 |
| ·基于标准黑体传递的辐射定标 | 第11页 |
| ·基于标准探测器传递的辐射定标 | 第11-12页 |
| ·基于SPDC的辐射定标方法和发展现状 | 第12-14页 |
| ·光子探测器的发展现状 | 第14-18页 |
| ·雪崩光电二极管(APD) | 第14-16页 |
| ·光电倍增管(PMT) | 第16-17页 |
| ·基于微通道板的光子探测器(MCP) | 第17-18页 |
| ·光子探测器的性能参数 | 第18-19页 |
| ·论文的主要研究内容 | 第19-24页 |
| 第2章 基于SPDC定标的基本理论 | 第24-32页 |
| ·SPDC产生机理 | 第24-25页 |
| ·SPDC定标量子效率原理 | 第25-27页 |
| ·光子探测器的线性及其影响因素 | 第27-29页 |
| ·SPDC方法定标光子探测器线性原理 | 第29-31页 |
| ·本章小结 | 第31-32页 |
| 第3章 光子探测器性能测试系统 | 第32-50页 |
| ·性能测试系统的仪器 | 第32-45页 |
| ·激光器 | 第33-34页 |
| ·非线性晶体 | 第34-35页 |
| ·带通滤光片和截止滤光片 | 第35-37页 |
| ·单色仪 | 第37页 |
| ·光子探测器APD和PMT | 第37-38页 |
| ·静电计和功率计 | 第38-39页 |
| ·信号发生器和示波器 | 第39-40页 |
| ·符合探测器组件 | 第40-43页 |
| ·符合器件的测量 | 第43-44页 |
| ·计数器 | 第44-45页 |
| ·光子探测器量子效率定标系统 | 第45-46页 |
| ·光子计数探测器后脉冲测量系统 | 第46-47页 |
| ·光子探测器线性测量系统 | 第47-49页 |
| ·本章小结 | 第49-50页 |
| 第4章 测量结果与分析 | 第50-68页 |
| ·量子效率的测量 | 第50-55页 |
| ·测量的不确定度评估 | 第55-58页 |
| ·后脉冲概率的测量 | 第58-59页 |
| ·线性的测量 | 第59-63页 |
| ·系统精度验证实验 | 第59-60页 |
| ·光子探测器线性测量 | 第60-63页 |
| ·光子计数修正 | 第63-65页 |
| ·本章小结 | 第65-68页 |
| 第5章 工作总结与下一步计划 | 第68-74页 |
| ·研究工作总结 | 第68-69页 |
| ·下一步工作计划 | 第69-74页 |
| 参考文献 | 第74-78页 |
| 致谢 | 第78-80页 |
| 在读期间发表的学术论文与取得的研究成果 | 第80页 |
