单晶硅表面钝化及HIT电池性能提升研究
摘要 | 第1-6页 |
英文摘要 | 第6-10页 |
第1章 引言 | 第10-18页 |
·能源发展与环境问题 | 第10-11页 |
·光伏发电技术 | 第11-14页 |
·高效太阳能电池 | 第14-16页 |
·HIT电池的结构与特点 | 第16-17页 |
·本文研究内容 | 第17-18页 |
第2章 实验方法 | 第18-30页 |
·制备方法 | 第18-21页 |
·等离子体增强化学气相沉积(PECVD) | 第18-19页 |
·物理气相沉积(PVD) | 第19-20页 |
·RCA清洗技术 | 第20-21页 |
·表征方法 | 第21-30页 |
·少子寿命测试 | 第21-22页 |
·傅立叶变换红外吸收谱分析(FTIR) | 第22-23页 |
·拉曼散射谱分析(Raman) | 第23-25页 |
·电导率测量 | 第25页 |
·I-V测试 | 第25-27页 |
·量子效率测试 | 第27-30页 |
第3章 单晶硅表面钝化 | 第30-54页 |
·本征非晶硅薄膜沉积 | 第30-35页 |
·实验 | 第30页 |
·硅烷浓度(SC)对非晶硅薄膜性能的影响 | 第30-32页 |
·沉积功率对非晶硅薄膜性能的影响 | 第32-34页 |
·沉积气压对非晶硅薄膜性能的影响 | 第34-35页 |
·表面处理对少子寿命的影响 | 第35-37页 |
·实验 | 第35-36页 |
·结果与讨论 | 第36-37页 |
·退火对少子寿命的影响 | 第37-40页 |
·掺杂非晶硅薄膜沉积 | 第40-48页 |
·实验 | 第40页 |
·工艺参数对n型非晶硅薄膜性能的影响 | 第40-45页 |
·工艺参数对p型非晶硅薄膜性能的影响 | 第45-48页 |
·本征/掺杂叠层后钝化效果研究 | 第48-51页 |
·实验 | 第48-49页 |
·叠层结构钝化效果 | 第49-51页 |
·小结 | 第51-54页 |
第4章 HIT电池性能研究 | 第54-70页 |
·有效少子寿命用于HIT工艺控制 | 第54-60页 |
·实验 | 第54-55页 |
·结果与讨论 | 第55-60页 |
·p层优化对HIT电池性能的影响 | 第60-64页 |
·实验 | 第60页 |
·结果与讨论 | 第60-64页 |
·效率损失分析 | 第64-67页 |
·小结 | 第67-70页 |
第5章 结论 | 第70-72页 |
参考文献 | 第72-76页 |
致谢 | 第76-78页 |
攻读学位期间发表的学术论文 | 第78页 |