| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-17页 |
| ·研究背景及意义 | 第10-11页 |
| ·多波段及有源标识技术研究现状 | 第11-15页 |
| ·多波段光源器件研究现状 | 第11-13页 |
| ·多波段光电识别技术研究现状 | 第13-15页 |
| ·论文研究内容 | 第15-16页 |
| ·课题来源 | 第16-17页 |
| 第二章 多波段红外光源理论基础分析 | 第17-29页 |
| ·红外辐射理论 | 第17-21页 |
| ·黑体和黑体辐射 | 第17-18页 |
| ·非黑体辐射 | 第18-19页 |
| ·辐射体分类 | 第19-21页 |
| ·仿流明红外 LED | 第21-25页 |
| ·仿流明红外 LED 伏安特性 | 第22-23页 |
| ·仿流明红外 LED 电光转换特性 | 第23-24页 |
| ·仿流明红外 LED 其他特性 | 第24-25页 |
| ·SOI 基 MEMS 红外光源 | 第25-28页 |
| ·MEMS 红外光源结构设计 | 第25-27页 |
| ·MEMS 红外光源制造工艺研究 | 第27-28页 |
| ·本章小结 | 第28-29页 |
| 第三章 标识光源单元辐射特性研究 | 第29-42页 |
| ·多波段光谱特性测试 | 第29-35页 |
| ·短波红外光谱测试 | 第29-31页 |
| ·中波和长波红外光谱测试 | 第31-35页 |
| ·辐射效率测试分析 | 第35-38页 |
| ·f(λT)= M_λ/ M_(λm)函数 | 第36页 |
| ·F(λT)= M_(0～λ)/ M_(0～∞)函数 | 第36-38页 |
| ·辐射强度与探测因素测试分析 | 第38-41页 |
| ·探测距离与辐射强度分析 | 第39-40页 |
| ·探测角度与辐射强度分析 | 第40-41页 |
| ·本章小结 | 第41-42页 |
| 第四章 光源阵列动态标识图形设计 | 第42-47页 |
| ·多波段光源阵列驱动设计 | 第42-44页 |
| ·动态标识图形编码设计 | 第44-46页 |
| ·平面阵列动态标识图形编码 | 第44-45页 |
| ·三维阵列动态标识图形编码 | 第45-46页 |
| ·本章小结 | 第46-47页 |
| 第五章 多波段阵列动态成像特性研究 | 第47-61页 |
| ·简单背景下动态成像测试 | 第47-53页 |
| ·热释电热像仪与标识特性分析 | 第47-49页 |
| ·制冷型热像仪与标识特性分析 | 第49-50页 |
| ·动态成像与频率特性测试与分析 | 第50-52页 |
| ·动态成像与距离特性测试与分析 | 第52-53页 |
| ·复杂背景下动态标识成像分析 | 第53-60页 |
| ·白天复杂背景下动态标识成像分析 | 第54-57页 |
| ·夜晚复杂背景下动态标识成像分析 | 第57-60页 |
| ·本章小结 | 第60-61页 |
| 第六章 总结及展望 | 第61-63页 |
| ·论文总结 | 第61-62页 |
| ·工作展望 | 第62-63页 |
| 参考文献 | 第63-67页 |
| 攻读硕士期间学术成果情况 | 第67-68页 |
| 致谢 | 第68-69页 |