| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-8页 |
| 第1章 引言 | 第8-12页 |
| ·选题背景及意义 | 第8页 |
| ·国内外研究现状 | 第8-11页 |
| ·主要内容 | 第11-12页 |
| 第2章 X荧光分析理论基础 | 第12-25页 |
| ·X射线与特征X射线 | 第12-13页 |
| ·X射线与物质的相互作用 | 第13-15页 |
| ·质量吸收系数与吸收限 | 第15-17页 |
| ·X荧光分析理论公式 | 第17-22页 |
| ·莫塞莱定律 | 第17页 |
| ·初级X荧光强度的计算公式 | 第17-20页 |
| ·次级荧光强度的计算 | 第20-22页 |
| ·吸收-增强效应 | 第22-25页 |
| 第3章 蒙特卡罗方法简介 | 第25-29页 |
| ·蒙特卡罗方法的发展与相关软件 | 第25页 |
| ·MCNP5蒙特卡罗程序 | 第25-29页 |
| 第4章 蒙特卡罗模拟模型 | 第29-36页 |
| ·蒙特卡罗模拟模型的建立 | 第29-30页 |
| ·探测器响应函数 | 第30-32页 |
| ·EDXRF实测数据求取GEB卡系数 | 第32-33页 |
| ·高斯展宽模拟谱与实验谱对比 | 第33-36页 |
| 第5章 Fe-Cr、Fe-Mn、Cu-Zn二元样模拟结果 | 第36-46页 |
| ·Fe-Cr二元样模拟结果 | 第36-39页 |
| ·Fe-Mn二元样模拟结果 | 第39-42页 |
| ·Cu-Zn二元样模拟结果 | 第42-46页 |
| 第6章 自动求取高斯展宽系数程序 | 第46-48页 |
| 结论 | 第48-49页 |
| 致谢 | 第49-50页 |
| 参考文献 | 第50-52页 |
| 攻读学位期间取得的学术成果 | 第52-53页 |
| 附录A 自动求取高斯展宽系数程序主要代码 | 第53-60页 |