安卓应用外部数据输入Fuzzing技术研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 目录 | 第7-9页 |
| 图目录 | 第9-10页 |
| 表目录 | 第10-11页 |
| 第1章 引言 | 第11-17页 |
| ·研究背景与意义 | 第11-12页 |
| ·国内外研究现状 | 第12-15页 |
| ·研究内容 | 第15-16页 |
| ·论文结构 | 第16-17页 |
| 第2章 相关技术基础 | 第17-25页 |
| ·安卓及其应用概述 | 第17-19页 |
| ·Fuzzing技术简介 | 第19-20页 |
| ·应用程序错误监测技术 | 第20-21页 |
| ·安卓应用的缺陷分析方法 | 第21-24页 |
| ·Dalvik字节码静态插桩方法 | 第21-23页 |
| ·so库动态调试方法 | 第23-24页 |
| ·本章小结 | 第24-25页 |
| 第3章 安卓应用Fuzzing测试系统设计 | 第25-39页 |
| ·数据变异模块设计 | 第26-35页 |
| ·外部数据输入的统一描述方法 | 第26-33页 |
| ·变异算法设计 | 第33-35页 |
| ·动态监测模块 | 第35-37页 |
| ·虚拟机层的错误监测 | 第35-37页 |
| ·Native层出错监测 | 第37页 |
| ·本章小结 | 第37-39页 |
| 第4章 系统实现与实验 | 第39-57页 |
| ·安卓应用外部数据输入Fuzzing测试系统实现 | 第39-44页 |
| ·系统结构 | 第39-40页 |
| ·主要类结构 | 第40-44页 |
| ·实验结果 | 第44-54页 |
| ·实验样本选择 | 第45页 |
| ·测试结果与分析 | 第45-53页 |
| ·已知漏洞验证 | 第53-54页 |
| ·潜在漏洞挖掘 | 第54页 |
| ·本章小结 | 第54-57页 |
| 第5章 总结与展望 | 第57-61页 |
| ·总结 | 第57-58页 |
| ·目前工作 | 第58页 |
| ·展望 | 第58-61页 |
| 参考文献 | 第61-63页 |
| 致谢 | 第63-65页 |
| 在读期间发表的学术论文与取得的研究成果 | 第65页 |
