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溶胶—凝胶法制备ZnO:(Al,La)透明导电薄膜的微观结构和光电性能的研究

摘要第1-6页
Abstract第6-16页
第一章 概述第16-34页
   ·引言第16-17页
   ·ZnO薄膜的基本特性第17-19页
   ·掺杂ZnO薄膜的导电机理第19页
   ·ZnO透明导电薄膜的应用第19-22页
   ·ZnO透明导电薄膜的研究现状第22-27页
     ·ZnO透明导电薄膜的国内研究现状第24-26页
     ·ZnO透明导电薄膜的国外研究现状第26-27页
   ·ZnO透明导电薄膜的制备第27-32页
     ·磁控溅射法第27-28页
     ·喷雾热分解第28-29页
     ·金属有机物化学气相沉积法第29-30页
     ·脉冲激光沉积第30-31页
     ·激光分子束外延第31页
     ·溶胶一凝胶法第31-32页
     ·其它方法第32页
   ·课题研究的意义和主要内容第32-34页
     ·课题研究的意义第32-33页
     ·课题研究的主要内容第33-34页
第二章 溶胶—凝胶法制备ZnO薄膜原理第34-43页
   ·溶胶—凝胶法制备薄膜技术概述第34-36页
     ·溶胶一凝胶法制备薄膜技术的发展过程第34-35页
     ·溶胶—凝胶技术的特点第35-36页
   ·溶胶凝胶法制备薄膜的工艺过程第36-39页
     ·溶胶的制备第36-37页
     ·凝胶制备及原理第37-38页
     ·锻烧和烧结第38-39页
   ·溶胶—凝胶法制备薄膜的方法第39-40页
     ·提拉法第39-40页
     ·旋转涂覆法第40页
     ·喷涂法第40页
   ·溶胶—凝胶法制备薄膜的影响因素第40-43页
     ·水解度第41页
     ·催化剂第41页
     ·溶胶浓度第41页
     ·成胶温度第41-43页
第三章 ZnO薄膜的表征技术第43-52页
   ·ZnO薄膜的结构分析—X射线衍射(XRD)第43-45页
     ·晶向的标定第44-45页
     ·估算晶粒尺寸第45页
     ·计算晶格常数第45页
     ·分析薄膜内部应力第45页
   ·ZnO薄膜的表面形貌分析—SEM第45-47页
   ·ZnO薄膜的电学性能的分析—四探针第47-49页
   ·ZnO薄膜的光学性能的分析—分光光度仪第49-50页
   ·ZnO薄膜成分分析—X射线光电子能谱第50-52页
第四章 溶胶凝胶法制备ZnO:(Al,La)透明导电薄膜第52-59页
   ·实验方案第52-54页
     ·实验方案的选取第52页
     ·实验方案的设计第52-54页
   ·试剂及仪器设备第54-55页
     ·试剂第54页
     ·仪器设备第54-55页
   ·ZnO:(Al,La)透明导电薄膜的制备过程第55-59页
     ·制备ZnO:(Al,La)薄膜工艺流程第55-56页
     ·制备溶胶第56页
     ·基片的选择第56页
     ·基片的清洗第56页
     ·提拉法镀膜第56-57页
     ·薄膜的干燥第57页
     ·薄膜的预处理第57页
     ·薄膜在还原气氛下的退火处理第57-59页
第五章 ZnO:(Al,La)薄膜的实验结果及分析第59-71页
   ·ZnO:(Al,La)薄膜的结构分析第59-61页
     ·Al掺杂浓度对ZnO:(Al,La)薄膜的结构的影响第59-60页
     ·退火温度对ZnO:(Al,La)薄膜的结构的影响第60-61页
   ·ZnO:(Al,La)薄膜的微观形貌分析第61-66页
     ·退火温度对ZnO:(Al,La)薄膜的微观形貌的影响第61-63页
     ·掺杂浓度对ZnO:(Al,La)薄膜微观形貌的影响第63-64页
     ·ZnO:(Al,La)薄膜的断口图第64-66页
   ·ZnO:(Al,La)薄膜的电学性能分析第66-67页
     ·掺杂浓度对薄膜电学性能的影响第66-67页
     ·退火温度对薄膜电学性能的影响第67页
   ·还原气氛退火对ZnO:(Al,La)薄膜电阻率的影响第67-69页
   ·Zn:(Al,La)薄膜光学性能分析第69-71页
     ·退火温度对ZnO:(Al,La)薄膜光学性能的影响第69-70页
     ·掺杂浓度对ZnO:(Al,La)薄膜光学性能的影响第70-71页
第六章 总结第71-73页
   ·主要结论第71-72页
   ·创新点第72-73页
参考文献第73-77页
致谢第77-78页
攻读硕士学位期间发表的论文第78页

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