X波段低相噪VCO及锁相技术研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-13页 |
| ·低相噪固态源概述 | 第9-10页 |
| ·低相噪固态源国内外发展概况 | 第10-11页 |
| ·课题意义和研究内容 | 第11-13页 |
| 第二章 振荡器相位噪声分析 | 第13-25页 |
| ·相位噪声的概述 | 第13-14页 |
| ·振荡器相位噪声的产生机理 | 第14-23页 |
| ·振荡器相位噪声的线性分析 | 第14-19页 |
| ·振荡器相位噪声的非线性分析 | 第19-23页 |
| ·降低振荡器相位噪声的措施 | 第23-24页 |
| ·影响振荡器性能的器件因素 | 第24-25页 |
| 第三章 X波段负阻低相噪压控振荡器设计 | 第25-37页 |
| ·用于振荡器的有源器件介绍 | 第25页 |
| ·负阻概念 | 第25-26页 |
| ·二端口负阻振荡器设计 | 第26-30页 |
| ·用S参数分析振荡器设计原理 | 第26-29页 |
| ·用S参数设计二端口振荡器的步骤 | 第29页 |
| ·Z参数、Y参数与S参数的相互关系 | 第29-30页 |
| ·X波段压控振荡器设计 | 第30-35页 |
| ·GaAs FET振荡器电路结构选择 | 第30-32页 |
| ·静态工作点选择 | 第32-33页 |
| ·压控振荡器设计 | 第33-35页 |
| ·VCO测试与结果分析 | 第35-37页 |
| ·VCO测试 | 第35-36页 |
| ·VCO测试结果分析 | 第36-37页 |
| 第四章 X波段低相噪压控介质振荡器设计 | 第37-48页 |
| ·介质振荡器性能概述 | 第37-38页 |
| ·串联反馈介质振荡器原理 | 第38-40页 |
| ·压控介质振荡器原理 | 第40-41页 |
| ·VCDRO设计 | 第41-45页 |
| ·有源器件选择 | 第41页 |
| ·静态工作点选择 | 第41-43页 |
| ·有源电路设计 | 第43-45页 |
| ·VCDRO测试与结果分析 | 第45-48页 |
| ·VCDRO测试 | 第46-47页 |
| ·VCDRO测试结果分析 | 第47-48页 |
| 第五章 X波段移频反馈频率综合源设计 | 第48-70页 |
| ·锁相环工作原理 | 第48-51页 |
| ·环路基本模型 | 第49页 |
| ·锁相环的线性性能分析 | 第49-51页 |
| ·移频反馈频率综合器相位噪声性能分析 | 第51-53页 |
| ·系统指标 | 第53页 |
| ·系统方案 | 第53-55页 |
| ·9.6GHz本振源性能分析 | 第55-57页 |
| ·移频反馈锁相电路设计 | 第57-62页 |
| ·器件性能分析 | 第58页 |
| ·PLL辅助电路设计 | 第58-59页 |
| ·锁相环路设计 | 第59-62页 |
| ·电磁兼容设计 | 第62-64页 |
| ·锁相电路测试 | 第64-70页 |
| ·VCO锁相电路测试与结果分析 | 第65-67页 |
| ·VCDRO锁相电路测试与结果分析 | 第67-70页 |
| 第六章 结束语 | 第70-72页 |
| 致谢 | 第72-73页 |
| 参考文献 | 第73-77页 |
| 作者攻硕期间取得的成果 | 第77页 |
