| 目录 | 第1-6页 |
| 摘要 | 第6-7页 |
| ABSTRACT | 第7-8页 |
| 引言 | 第8-12页 |
| 第一章 辐射与物质的相互作用及辐射损伤机理研究 | 第12-24页 |
| ·辐射与物质的相互作用 | 第12-13页 |
| ·辐射损伤机理研究 | 第13-19页 |
| ·辐射损伤的概念 | 第13-14页 |
| ·电子过程 | 第14-15页 |
| ·原子过程 | 第15-19页 |
| ·微观缺陷对宏观电参数造成的影响 | 第19-24页 |
| 第二章 质子辐照实验设备和方法 | 第24-29页 |
| ·设备描述 | 第24页 |
| ·实验前的计算 | 第24-26页 |
| ·散射质子能量随散射角度的变化 | 第25页 |
| ·辐照时间的估算 | 第25-26页 |
| ·实验方法及条件描述 | 第26-27页 |
| ·实验中影响探测器能量分辨率的几个因素 | 第27-29页 |
| 第三章 PIN探测器的电荷收集特性研究 | 第29-34页 |
| 第四章 质子注入实验 | 第34-46页 |
| ·主要实验内容 | 第34页 |
| ·实验结果 | 第34-44页 |
| ·探测器的电荷收集效率辐照剂量的变化规律 | 第34-41页 |
| ·PIN型探测器的能量分辨随质子辐照剂量的变化规律 | 第41页 |
| ·PIN型探测器的正反向电阻随照射剂量的变化规律 | 第41-44页 |
| ·结果及讨论 | 第44-46页 |
| 第五章 质子贯穿实验 | 第46-55页 |
| ·实验设备、条件及方法 | 第46页 |
| ·原始实验结果 | 第46-52页 |
| ·探测器的电荷收集效率辐照剂量的变化规律 | 第46-50页 |
| ·PIN型探测器的能量分辨随质子辐照剂量的变化规律 | 第50-51页 |
| ·PIN型探测器的正反向电阻随照射剂量的变化规律 | 第51-52页 |
| ·结果及讨论 | 第52-55页 |
| 第六章 总结 | 第55-57页 |
| 参考文献 | 第57-59页 |
| 图表索引 | 第59-62页 |
| 科研成果 | 第62-63页 |
| 致谢 | 第63页 |