| 第1章 绪论 | 第1-18页 |
| 1．1 研究背景与研究意义 | 第9-10页 |
| 1．1．1 研究背景 | 第9页 |
| 1．1．2 研究意义 | 第9-10页 |
| 1．2 质量控制图基本理论及研究进展状况 | 第10-18页 |
| 1．2．1 质量的统计观点 | 第10-12页 |
| 1．2．2 质量控制图的结构 | 第12-14页 |
| 1．2．3 两类错误 | 第14-15页 |
| 1．2．4 统计过程质量控制图的研究发展 | 第15-18页 |
| 第2章 自相关现象对常规控制图的影响分析 | 第18-28页 |
| 2．1 生产过程中自相关现象 | 第18-21页 |
| 2．2 平均链长(ARL) | 第21-22页 |
| 2．3 忽视自相关现象对休哈特图影响的蒙特卡洛模拟研究 | 第22-25页 |
| 2．4 忽视自相关现象对休哈特图影响的案例比较研究 | 第25-28页 |
| 第3章 自相关过程的残差控制图方法 | 第28-40页 |
| 3．1 残差控制图的原理及算法 | 第28-30页 |
| 3．2 残差控制图检测能力的分析 | 第30-36页 |
| 3．2．1 残差控制图的检测能力指数 | 第31-32页 |
| 3．2．2 残差控制图与休哈特控制图检测效率的比较分析 | 第32-36页 |
| 3．3 残差控制图与常规控制图的比较及案例分析 | 第36-40页 |
| 3．3．1 蒙特卡洛模拟比较研究 | 第36-38页 |
| 3．3．2 实际案例比较研究 | 第38-40页 |
| 第4章 自相关过程的改进型EWMA控制图 | 第40-54页 |
| 4．1 EWMA控制图理论简介 | 第41-42页 |
| 4．2 忽视序列相关对EWMA控制图的影响 | 第42-45页 |
| 4．3 改进型EWMA控制图理论及算法 | 第45-48页 |
| 4．4 改进型EWMA控制图与其它类型控制图检测能力比较 | 第48-54页 |
| 4．4．1 改进型EWMA控制图的蒙特卡洛模拟研究 | 第48-51页 |
| 4．4．2 改进型EWMA控制图的案例研究 | 第51-54页 |
| 第5章 自相关过程的ARMA控制图 | 第54-67页 |
| 5．1 ARMA控制图的设计原理 | 第54-57页 |
| 5．2 信噪比与ARMA控制图参数的选取 | 第57-59页 |
| 5．3 ARMA控制图的算法及流程图 | 第59-61页 |
| 5．4 ARMA控制图与常规控制图的比较及模拟案例分析 | 第61-67页 |
| 第6章 本文创新与总结 | 第67-69页 |
| 6．1 本文创新 | 第67-68页 |
| 6．2 总结 | 第68-69页 |
| 参考文献 | 第69-75页 |
| 附录 | 第75-77页 |
| 致谢 | 第77页 |
