光纤点衍射干涉仪数据处理与系统标定
第一章 绪论 | 第1-18页 |
·常用干涉检测技术 | 第8-9页 |
·点衍射干涉仪技术 | 第9-11页 |
·条纹分析方法 | 第11-16页 |
·静态条纹分析方法 | 第11-14页 |
·动态条纹分析方法 | 第14-16页 |
·干涉图像处理技术 | 第16页 |
·本文研究意义和内容 | 第16-18页 |
第二章 光纤点衍射干涉仪的精密调整 | 第18-25页 |
·光纤点衍射干涉仪的构成 | 第18-21页 |
·结构参数 | 第18-20页 |
·光强分析 | 第20-21页 |
·系统光路调整 | 第21-23页 |
·相移干涉方法简介 | 第23-25页 |
第三章 相移精度标定与波前重构算法研究 | 第25-36页 |
·压电陶瓷的标定 | 第25-31页 |
·波前重构处理 | 第31-36页 |
第四章 干涉条纹的拟合分析 | 第36-49页 |
·Zernike多项式 | 第36-40页 |
·Zernike多项式的径向表达式 | 第36-37页 |
·Zernike多项式的波前表达式 | 第37-38页 |
·Zernike多项式的直角坐标表达式 | 第38-40页 |
·Gram-Schmidt正交化方法 | 第40-43页 |
·计算Zernike多项式系数 | 第43-49页 |
第五章 误差分析 | 第49-54页 |
·实验误差与精度分析 | 第49-51页 |
·误差源分析 | 第51-54页 |
第六章 结论与展望 | 第54-55页 |
参考文献 | 第55-57页 |
致谢 | 第57-58页 |