高温超导薄膜微波表面电阻的测量
| 第一章 引言 | 第1-14页 |
| 1．1 超导简介 | 第8-9页 |
| 1．1．1 高温超导现象的发现 | 第8页 |
| 1．1．2 两种类型的超导体 | 第8-9页 |
| 1．2 超导的发展 | 第9-10页 |
| 1．3 超导技术的优越性 | 第10-11页 |
| 1．4 高温超导薄膜 | 第11-13页 |
| 1．4．1 高温超导薄膜的制备 | 第11-12页 |
| 1．4．2 高温超导薄膜的应用 | 第12-13页 |
| 1．5 工作内容 | 第13-14页 |
| 第二章 高温超导机理和高温超导材料的特性 | 第14-22页 |
| 2．1 超导机理 | 第14页 |
| 2．2 超导电流 | 第14-22页 |
| 2．3 二流体模型和表面电阻 | 第14-20页 |
| 2．4 超导体与常规金属RS的比较 | 第20-22页 |
| 第三章 高温超导薄膜微波表面电阻的测试方法 | 第22-38页 |
| 3．1 端面替代法 | 第22-24页 |
| 3．2 介质谐振法 | 第24-25页 |
| 3．3 蓝宝石介质谐振器法 | 第25-36页 |
| 3．3．1 改进后的测试方法 | 第28-29页 |
| 3．3．2 本测试系统的理论分析 | 第29-36页 |
| 3．3．2．1 测试方法的理论模型 | 第29-32页 |
| 3．3．2．2 A,B值的确定 | 第32-36页 |
| 3．4 固有品质因数Q0的测量 | 第36-38页 |
| 第四章 高温超导薄膜微波表面电阻的测试 | 第38-47页 |
| 4．1 腔体主体尺寸的设计 | 第39页 |
| 4．2 耦合装置的设计 | 第39-41页 |
| 4．2．1 耦合小孔截止波导的设计 | 第39-40页 |
| 4．2．2 同轴到波导过渡的探针位置的确定 | 第40-41页 |
| 4．3 谐振器固有品质因数Q_0的计算 | 第41-44页 |
| 4．4 测试系统的组建 | 第44-45页 |
| 4．5 测试腔加载校准头后的测试 | 第45-47页 |
| 第五章 测试结果与镜像对称性分析 | 第47-55页 |
| 5．1 蓝宝石晶体对镜像对称性的影响 | 第47-49页 |
| 5．2 耦合装置对镜像对称性的影响 | 第49-50页 |
| 5．3 实验结果 | 第50-54页 |
| 5．4 结论 | 第54-55页 |
| 第六章 结论 | 第55-56页 |
| 参考文献 | 第56-58页 |
| 致谢 | 第58页 |
