高温超导薄膜微波表面电阻的测量
第一章 引言 | 第1-14页 |
1.1 超导简介 | 第8-9页 |
1.1.1 高温超导现象的发现 | 第8页 |
1.1.2 两种类型的超导体 | 第8-9页 |
1.2 超导的发展 | 第9-10页 |
1.3 超导技术的优越性 | 第10-11页 |
1.4 高温超导薄膜 | 第11-13页 |
1.4.1 高温超导薄膜的制备 | 第11-12页 |
1.4.2 高温超导薄膜的应用 | 第12-13页 |
1.5 工作内容 | 第13-14页 |
第二章 高温超导机理和高温超导材料的特性 | 第14-22页 |
2.1 超导机理 | 第14页 |
2.2 超导电流 | 第14-22页 |
2.3 二流体模型和表面电阻 | 第14-20页 |
2.4 超导体与常规金属RS的比较 | 第20-22页 |
第三章 高温超导薄膜微波表面电阻的测试方法 | 第22-38页 |
3.1 端面替代法 | 第22-24页 |
3.2 介质谐振法 | 第24-25页 |
3.3 蓝宝石介质谐振器法 | 第25-36页 |
3.3.1 改进后的测试方法 | 第28-29页 |
3.3.2 本测试系统的理论分析 | 第29-36页 |
3.3.2.1 测试方法的理论模型 | 第29-32页 |
3.3.2.2 A,B值的确定 | 第32-36页 |
3.4 固有品质因数Q0的测量 | 第36-38页 |
第四章 高温超导薄膜微波表面电阻的测试 | 第38-47页 |
4.1 腔体主体尺寸的设计 | 第39页 |
4.2 耦合装置的设计 | 第39-41页 |
4.2.1 耦合小孔截止波导的设计 | 第39-40页 |
4.2.2 同轴到波导过渡的探针位置的确定 | 第40-41页 |
4.3 谐振器固有品质因数Q_0的计算 | 第41-44页 |
4.4 测试系统的组建 | 第44-45页 |
4.5 测试腔加载校准头后的测试 | 第45-47页 |
第五章 测试结果与镜像对称性分析 | 第47-55页 |
5.1 蓝宝石晶体对镜像对称性的影响 | 第47-49页 |
5.2 耦合装置对镜像对称性的影响 | 第49-50页 |
5.3 实验结果 | 第50-54页 |
5.4 结论 | 第54-55页 |
第六章 结论 | 第55-56页 |
参考文献 | 第56-58页 |
致谢 | 第58页 |