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基于序列图像重构的超分辨率成像技术研究

第一章 概述第1-12页
 §1.1 序论第7页
 §1.2 国内外发展状况第7-9页
 §1.3 基于序列图像重构的高分辨率成像技术的应用意义第9-10页
 §1.4 本课题的研究内容第10-12页
第二章 超分辨率复原第12-26页
 §2.1 超分辨率复原技术的含义第12页
 §2.2 超分辨率复原的理论基础第12-15页
  §2.2.1 超分辨率复原的数学物理基础第12-14页
  §2.2.2 超分辨率复原能力第14-15页
 §2.3 分辨率提高方法第15-20页
  §2.3.1 图像拼接法第15页
  §2.3.2 超分辨率复原(或重建)第15-19页
  §2.3.3 多源图像融合第19-20页
 §2.4 图像重构原理分析第20-22页
 §2.5 图像重构算法—反演解析法第22-26页
第三章 图像的获取第26-38页
 §3.1 分光束光学系统第26-31页
 §3.2 光学分光路晶体厚度计算及光路偏折分析第31-34页
 §3.3 利用压电陶瓷特性的机械微位移系统第34-38页
第四章 图像接收器件的选择和应用第38-47页
 §4.1 CCD基本工作原理第38-41页
  §4.1.1 光电转换与贮存第38-39页
  §4.1.2 电荷转移第39-40页
  §4.1.3 电荷读出第40-41页
 §4.2 面阵CCD第41-45页
  §4.2.1 帧转移CCD及其在实验中的应用第41-43页
  §4.2.2 行间转移结构CCD及其在实验中的应用第43-44页
  §4.2.3 开关选择型CCD及其在实验中的应用第44页
  §4.2.4 彩色CCD滤色片及其在实验中的应用第44-45页
 §4.3 红外CCD第45-47页
第五章 超分辨率图像的重建第47-63页
 §5.1 电子系统设计第47页
 §5.2 计算机处理系统第47-48页
 §5.3 实验结果与分析第48-59页
  §5.3.1 刀口法测压电陶瓷位移第49-51页
  §5.3.2 通过有2/3CCD象素位移的两幅原图提高1.5倍分辨率第51-54页
  §5.3.3 通过1/2CCD象素位移的两幅原图提高2倍的分辨率第54-57页
  §5.3.4 通过1/5CCD象素位移的四幅原图试着提高2.5倍的分辨率第57-59页
 §5.4 位移误差分析第59-61页
 §5.5 目标图像不是分辨率板的图像重构实验第61-63页
第六章 噪声影响和算法改进第63-74页
 §6.1 CCD噪声来源分析第63-64页
 §6.2 噪声影响对分辨率提高的理论分析第64-67页
 §6.3 噪声在实验中的影响极其分析第67-71页
 §6.4 算法改进第71-74页
第七章 总结与展望第74-78页
致谢第78-79页
参考文献第79-82页
论文发表情况第82页

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