合成绝缘子老化试验智能测量系统的研究
| 中文摘要 | 第1-3页 |
| 英文摘要 | 第3-4页 |
| 目录 | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-16页 |
| 1． 课题研究的背景和意义 | 第7-10页 |
| 1．1 课题研究的背景 | 第7-9页 |
| 1．2 课题研究的意义 | 第9-10页 |
| 2． 合成绝缘子加速老化试验 | 第10页 |
| 3． 国内外的研究现状及存在问题 | 第10-13页 |
| 4． 课题研究的难点 | 第13-15页 |
| 5． 本文的工作 | 第15-16页 |
| 第二章 智能测量系统的硬件设计与开发 | 第16-28页 |
| 1． 硬件系统的要求 | 第16页 |
| 2． 硬件方案的提出 | 第16-17页 |
| 3． 硬件方案的设计 | 第17-25页 |
| 3．1 数据采集部分硬件方案的设计 | 第17-20页 |
| 3．2 数据采集部分硬件方案的实现 | 第20页 |
| 3．3 传感器的设计 | 第20-21页 |
| 3．4 保护部分硬件方案 | 第21-24页 |
| 3．5 老化试验箱的状态检测 | 第24页 |
| 3．6 故障报警的硬件设计 | 第24-25页 |
| 3．7 系统其它硬件 | 第25页 |
| 4． 硬件方案的实现 | 第25-27页 |
| 5． 硬件系统的试验验证 | 第27页 |
| 6． 本章小结 | 第27-28页 |
| 第三章 智能测量系统的软件设计与开发 | 第28-62页 |
| 1． 软件系统要求 | 第28-29页 |
| 2． 软件系统开发平台 | 第29-30页 |
| 3． 软件系统的功能实现 | 第30-61页 |
| 3．1 信号的获取 | 第31-32页 |
| 3．1．1 老化电流信号的获取 | 第31页 |
| 3．1．2 其他信号的获取 | 第31-32页 |
| 3．2 老化电流信号的分离 | 第32-39页 |
| 3．2．1 交流老化试验泄漏电流的特点 | 第32-33页 |
| 3．2．2 交流老化试验泄漏、脉冲电流的分离 | 第33-37页 |
| 3．2．3 直流老化试验泄漏、脉冲电流的分离 | 第37-39页 |
| 3．3 数据的常规处理 | 第39-46页 |
| 3．3．1 电流信号的转换、合并 | 第39-41页 |
| 3．3．2 累积电荷量的计算 | 第41-42页 |
| 3．3．3 电流最大值的统计 | 第42-43页 |
| 3．3．4 脉冲个数的统计 | 第43-46页 |
| 3．4 试验信息的存储 | 第46-52页 |
| 3．4．1 各特征量的存储 | 第46-47页 |
| 3．4．2 波形的定时存储 | 第47-49页 |
| 3．4．3 大脉冲的自动保存 | 第49-51页 |
| 3．4．4 时间束的保存 | 第51-52页 |
| 3．5 数据后处理 | 第52-54页 |
| 3．6 系统实现的特殊功能 | 第54-57页 |
| 3．6．1 故障报警的实现 | 第54-55页 |
| 3．6．2 软件系统的可持续性 | 第55-57页 |
| 3．7 系统的实时监测 | 第57-61页 |
| 3．7．1 电流信号的实时监测 | 第57-59页 |
| 3．7．2 显示调节器 | 第59页 |
| 3．7．3 电压波形的实时显示 | 第59-60页 |
| 3．7．4 试验时间和老化试验箱状态参数的监视 | 第60页 |
| 3．7．5 特征量的实时监视 | 第60-61页 |
| 4． 本章小结 | 第61-62页 |
| 第四章 智能测量系统的测试试验 | 第62-71页 |
| 1． 系统准确性试验 | 第62-63页 |
| 2． 系统灵敏性试验 | 第63-64页 |
| 3． 系统抗干扰性试验 | 第64页 |
| 4． 系统功能试验 | 第64-70页 |
| 4．1 系统定时存储功能试验 | 第65-66页 |
| 4．2 系统自动存储功能试验 | 第66-67页 |
| 4．3 系统数据后处理功能试验 | 第67-70页 |
| 5． 本章小结 | 第70-71页 |
| 第五章 结论 | 第71-72页 |
| 参考文献 | 第72-75页 |
| 致谢 | 第75页 |
