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中频非平衡磁控溅射制备硬质复合薄膜的研究

摘要第1-10页
Abstract第10-21页
第1章 绪论第21-52页
   ·硬质复合薄膜概述第21-23页
   ·国内外硬质薄膜技术的研究发展概况第23-30页
     ·国外硬质薄膜研究动态第23-24页
     ·国内硬质薄膜研究概况第24-27页
     ·DLC薄膜的发展动态第27-29页
     ·TiAlN薄膜的研究动态第29-30页
   ·Ti-N-C系列薄膜的特性与表征第30-33页
     ·Ti-N-C系列薄膜的特性第30-31页
     ·Ti-N-C系列薄膜的表征第31-33页
   ·DLC薄膜特性与表征第33-40页
     ·DLC薄膜的结构特性第33-34页
     ·DLC薄膜的表征第34-35页
     ·DLC薄膜的性能第35-36页
     ·DLC薄膜的应用第36-37页
     ·DLC薄膜的掺杂改性第37-39页
     ·DLC薄膜的过渡层第39-40页
   ·TiAlN薄膜第40-42页
     ·TiAlN薄膜的结构性能第40页
     ·TiAlN薄膜的掺杂改性第40-41页
     ·(Ti,Al)N薄膜的应用第41-42页
   ·TiNC、TiAlN薄膜复合DLC薄膜的意义第42页
   ·硬质薄膜的制备方法第42-45页
     ·化学气相沉积(CVD)方法第42-43页
     ·物理气相沉积(PVD)方法第43-45页
     ·其它沉积方法第45页
   ·本论文所采用的薄膜制备技术第45-49页
     ·非平衡磁控溅射技术第45-46页
     ·中频孪生靶磁控溅射技术第46-47页
     ·电弧离子镀技术第47-48页
     ·电弧离子镀与中频非平衡磁控溅射工艺结合第48页
     ·霍尔离子源辅助沉积第48-49页
   ·本论文研究的意义和内容第49-52页
     ·论文研究的意义第49-50页
     ·论文研究的内容第50-52页
第2章 实验设备及测试分析方法第52-61页
   ·实验所用薄膜沉积设备第52-53页
   ·薄膜测试仪器与分析方法第53-61页
     ·扫描电子显微镜(SEM)和X射线能谱仪(EDS)第53-54页
     ·X射线衍射仪(XRD)第54-55页
     ·激光拉曼光谱(Raman)第55-56页
     ·X射线光电子能谱仪(XPS)第56页
     ·微纳米力学综合测试系统(CMS)第56-58页
     ·轮廓仪第58页
     ·显微硬度计第58-59页
     ·摩擦磨损试验机第59页
     ·分光光度计(色差仪)第59-60页
     ·电化学工作站第60-61页
第3章 Ti-N-C膜系硬质复合薄膜的制备与性能研究第61-87页
   ·膜系的选择与制备工艺第61-62页
   ·TiN/Ti过渡膜层的制备与性能分析第62-67页
     ·过渡膜层的制备第62页
     ·TiN膜层相结构分析第62-63页
     ·TiN膜层的厚度、表面形貌以及粗糙度分析第63-65页
     ·TiN/Ti膜层的硬度与膜基结合力分析第65-67页
   ·Ti(C,N)/TiN/Ti薄膜的制备与性能研究第67-82页
     ·Ti(C,N)/TiN/Ti薄膜的制备第67-68页
     ·工艺参数对Ti(C,N)/TiN/Ti薄膜颜色的影响第68-71页
     ·工艺参数对Ti(C,N)/TiN/Ti薄膜晶体结构的影响第71-74页
     ·Ti(C,N)/TiN/Ti复合薄膜的硬度分析第74-77页
     ·Ti(C,N)/TiN/Ti薄膜的粗糙度分析第77-79页
     ·Ti(C,N)/TiN/Ti薄膜结合力的分析第79-82页
   ·TiC/Ti(C,N)/TiN/Ti复合薄膜制备与性能研究第82-85页
     ·TiC/Ti(C,N)/TiN/Ti薄膜制备第82页
     ·膜厚的测量第82-83页
     ·工艺参数对TiC/Ti(C,N)/TiN/Ti薄膜性能的影响第83-85页
   ·本章小结第85-87页
第4章 无氢DLC(α-C)复合薄膜的制备与性能研究第87-122页
   ·α-C复合薄膜的制备第87-89页
     ·靶材的选择及安装第87页
     ·α-C复合薄膜的制备工艺第87-89页
   ·工艺参数对α-C薄膜性能的影响第89-103页
     ·基片偏压对α-C薄膜性能的影响第89-94页
     ·基片温度对α-C薄膜的影响第94-98页
     ·霍尔离子源电流对α-C薄膜的影响第98-103页
   ·过渡层及不同基体材料对沉积α-C复合薄膜的影响第103-112页
     ·薄膜制备工艺第103-105页
     ·α-C薄膜的激光拉曼光谱分析第105页
     ·过渡层相结构分析第105-108页
     ·过渡层的扫描电镜及线扫描分析第108-109页
     ·α-C复合薄膜的结合力第109-112页
   ·掺氮α-C:N薄膜的制备与性能研究第112-119页
     ·试验工艺参数的确定第112页
     ·氮气流量对α-C:N薄膜沉积速率的影响第112-113页
     ·α-C:N薄膜的激光拉曼光谱分析第113-115页
     ·α-C:N薄膜的表面形貌分析第115-116页
     ·α-C:N薄膜的硬度与弹性模量第116-117页
     ·α-C:N薄膜的色差分析第117-118页
     ·α-C:N薄膜的摩擦系数第118-119页
   ·本章小结第119-122页
     ·基体偏压对α-C薄膜的影响第119页
     ·基体温度对α-C薄膜的影响第119-120页
     ·霍尔放电电流对α-C薄膜的影响第120页
     ·过渡层对α-C薄膜的影响第120-121页
     ·掺N_2量对α-C:N薄膜的影响第121-122页
第5章 含氢DLC(α-C:H)复合薄膜的制备与研究第122-143页
   ·α-C:H复合薄膜的制备第122-124页
   ·霍尔离子电流对薄膜性能的影响第124-129页
     ·复合薄膜厚度和沉积速率计算第124页
     ·α-C:H薄膜的表面形貌第124-125页
     ·α-C:H薄膜的色差分析第125-126页
     ·α-C:H薄膜的激光拉曼光谱分析第126-127页
     ·α-C:H薄膜硬度分析第127-129页
   ·C_2H_2流量对α-C:H复合膜性能的影响第129-132页
     ·复合薄膜厚度和沉积速率计算第129页
     ·α-C:H膜的SEM表面形貌观测第129-130页
     ·α-C:H薄膜的色差分析第130页
     ·α-C:H薄膜激光拉曼光谱分析第130-131页
     ·α-C:H薄膜摩擦性能分析第131-132页
   ·α-C:H复合薄膜其他性能的检测和分析第132-135页
     ·复合膜层的结合力测试分析第132页
     ·α-C:H膜层耐腐蚀性分析第132-135页
     ·α-C:H薄膜电阻值的测量分析第135页
   ·掺杂N_2对α-C:H膜性能的影响第135-141页
     ·薄膜厚度和沉积速率计算第135页
     ·α-C:H:NSEM表面形貌观测第135-136页
     ·α-C:H:N薄膜的色差分析第136-137页
     ·α-C:H:N激光拉曼光谱分析第137-138页
     ·α-C:H:N复合膜层的XPS深度剖析第138-140页
     ·α-C:H:N薄膜的摩擦系数第140-141页
   ·本章小结第141-143页
第6章 Ti1-xAlxN和DLC/TiAlN复合薄膜的制备与分析研究第143-164页
   ·实验设备及膜系设计第143-144页
   ·Ti_(1-x)Al_xN复合薄膜的制备第144-145页
   ·Al含量对Ti_(1-x)Al_xN复合薄膜性能的影响第145-153页
     ·Ti_(1-x)Al_xN薄膜晶体结构分析第145页
     ·Ti_(1-x)Al_xN复合薄膜硬度测试分析第145-147页
     ·Ti_(1-x)Al_xN复合膜层剖析与膜基结合力分析第147-151页
     ·Ti_(1-x)Al_xN复合薄膜的摩擦性能分析第151-152页
     ·薄膜的表面形貌分析第152-153页
   ·DLC(α-C:H)/TiAlN复合薄膜的制备与分析研究第153-161页
     ·α-C:H/TiAlN复合薄膜的制备第153-154页
     ·测试结果分析及性能研究第154-161页
   ·本章小结第161-164页
第7章 结论第164-170页
   ·结论第164-168页
     ·Ti-N-C膜系硬质复合薄膜的制备研究第164页
     ·无氢DLC(α-C)复合薄膜的制备研究第164-166页
     ·含氢DLC(α-C:H)复合薄膜的制备研究第166-167页
     ·Ti_(1-x)Al_xN和TiAlN/DLC复合薄膜的制备与分析第167-168页
   ·论文的主要创新点第168-170页
参考文献第170-182页
致谢第182-183页
攻读博士学位期间发表的论著第183-184页
作者从事科研和学习的简历第184页

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