| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-20页 |
| ·磁电阻效应的研究历史概述 | 第10-16页 |
| ·磁电阻效应 | 第10页 |
| ·AMR效应 | 第10-12页 |
| ·GMR效应 | 第12-14页 |
| ·TMR效应 | 第14页 |
| ·CMR效应 | 第14-16页 |
| ·CMR效应理论机制的研究简介 | 第16-19页 |
| ·双交换模型 | 第17页 |
| ·Jahn-Teller效应 | 第17-18页 |
| ·相分离理论 | 第18-19页 |
| ·本论文设计思路和研究内容 | 第19-20页 |
| 第2章 理论基础 | 第20-27页 |
| ·钙钛矿锰氧化物的结构 | 第20-23页 |
| ·晶体结构 | 第20-21页 |
| ·电子结构 | 第21-23页 |
| ·锰氧化物的磁电特性 | 第23-24页 |
| ·掺杂对锰氧化物的影响 | 第24-27页 |
| 第3章 材料制备方法及表征 | 第27-32页 |
| ·固相反应法(材料的制备) | 第27-29页 |
| ·样品性能的测试简介 | 第29-31页 |
| ·X射线衍射 | 第29-30页 |
| ·扫描电镜 | 第30-31页 |
| ·电输运及磁性能测试 | 第31页 |
| ·小结 | 第31-32页 |
| 第4章 La_(0.64)Ca_(0.33)Mn_(1-x)Ti_xO_3、La_(0.64)Sr_(0.33)Mn_(1-x)Ti_xO_3体系的制备和结构分析 | 第32-44页 |
| ·样品制备 | 第32-34页 |
| ·实验中所需的主要仪器 | 第34页 |
| ·样品测试 | 第34-35页 |
| ·X射线衍射(XRD)对样品结构分析 | 第34页 |
| ·扫描电镜(SEM)形貌表征 | 第34-35页 |
| ·La_(0.64)Ca_(0.33)Mn_(1-x)Ti_xO_3(x=0.0,0.05,0.1,0.15,0.2,0.3)样品的测试分析 | 第35-38页 |
| ·XRD衍射对样品结构的分析 | 第35-37页 |
| ·SEM扫描电镜对样品形貌表征 | 第37-38页 |
| ·La_(0.64)Ca_(0.33)Mn_(1-x)Ti_xO_3(x=0.0,0.05,0.1,0.15,0.2,0.3)样品的测试分析 | 第38-42页 |
| ·XRD衍射对样品结构的分析 | 第38-40页 |
| ·SEM扫描电镜对样品形貌表征 | 第40-42页 |
| ·小结 | 第42-44页 |
| 第5章 La_(0.64)Ca_(0.33)Mn_(1-x)Ti_xO_3、La_(0.64)Sr_(0.33)Mn_(1-x)Ti_xO_3体系的电性能分析 | 第44-51页 |
| ·电性能测试系统 | 第44-45页 |
| ·La_(0.64)Sr_(0.33)Mn_(1-x)Ti_xO_3系列样品的电阻-温度关系 | 第45-47页 |
| ·La_(0.64)Sr_(0.33)Mn_(1-x)Ti_xO_3系列样品的电阻-温度关系 | 第47-50页 |
| ·小结 | 第50-51页 |
| 第6章 总结 | 第51-53页 |
| 参考文献 | 第53-58页 |
| 致谢 | 第58-59页 |
| 攻读学位期间研究成果 | 第59页 |
