摘要 | 第1-6页 |
ABSTRACT | 第6-10页 |
第一章 绪论 | 第10-21页 |
·前言 | 第10页 |
·自组装技术的基本概念与特点 | 第10-11页 |
·分子自组装的主要方法 | 第11-14页 |
·基于化学吸附的自组装膜技术(SA) | 第11-12页 |
·基于物理吸附的离子自组装膜技术(ISAM) | 第12页 |
·旋涂方法 | 第12页 |
·慢蒸发溶剂方法 | 第12页 |
·枝接成膜法 | 第12-13页 |
·基底上的有机分子自组装 | 第13页 |
·基于超分子识别的超分子合成技术 | 第13-14页 |
·自组装技术在纳米材料制备中的应用 | 第14-17页 |
·纳米团簇 | 第14-15页 |
·纳米管 | 第15页 |
·纳米线 | 第15页 |
·纳米孔洞材料 | 第15-16页 |
·功能化纳米材料 | 第16页 |
·功能化纳米级膜 | 第16页 |
·有机/无机纳米复合材料 | 第16-17页 |
·研究现状 | 第17-20页 |
·本课题的提出及研究内容 | 第20-21页 |
第二章 材料与方法 | 第21-27页 |
·主要原料及仪器 | 第21-22页 |
·实验步骤 | 第22-25页 |
·水介质对Al(OH)_3 微观形貌的影响 | 第22页 |
·异丙醇介质对Al(OH)_3 微观形貌的影响 | 第22-23页 |
·碳酸钠改性剂对Al(OH)_3 微观形貌的影响 | 第23-24页 |
·尿素改性剂对Al(OH)_3 微观形貌的影响 | 第24-25页 |
·性能表征 | 第25-27页 |
·XRD 测试 | 第25页 |
·SEM 测试 | 第25-26页 |
·粒度分析 | 第26-27页 |
第三章 水介质对AL(OH)_3微观形貌的影响 | 第27-36页 |
·XRD 分析 | 第27-28页 |
·SEM 分析 | 第28-33页 |
·不同处理温度对粉体形貌的影响 | 第29-30页 |
·不同处理时间对粉体形貌的影响 | 第30-32页 |
·不同水热处理时间对粉体的影响(XRD) | 第32-33页 |
·粒度分析 | 第33-35页 |
本章小结 | 第35-36页 |
第四章 异丙醇介质对AL(OH)_3微观形貌的影响 | 第36-47页 |
·XRD 分析 | 第36-37页 |
·SEM 分析 | 第37-42页 |
·不同溶剂热处理温度对粉体形貌的影响 | 第38-39页 |
·不同溶剂热处理时间对粉体形貌的影响 | 第39-40页 |
·不同异丙醇加入量对粉体形貌的影响 | 第40-41页 |
·不同溶剂热处理时间对粉体的影响(XRD) | 第41-42页 |
·粒度分析 | 第42-46页 |
·不同处理时间得到粉体的粒度分布 | 第42-44页 |
·不同异丙醇加入量得到粉体的粒度分布 | 第44-46页 |
本章小结 | 第46-47页 |
第五章 碳酸钠改性剂对AL(OH)_3微观形貌的影响 | 第47-56页 |
·XRD 分析 | 第47-48页 |
·SEM 分析 | 第48-53页 |
·不同Na_2CO_3/Al(OH)_3 摩尔比处理粉体的微观形貌 | 第49-50页 |
·不同处理温度对粉体形貌的影响 | 第50-51页 |
·不同处理时间对粉体形貌的影响 | 第51-52页 |
·不同时间水热处理时间对粉体的影响(XRD) | 第52-53页 |
·粒度分析 | 第53-55页 |
·不同处理时间得到粉体的粒度分布 | 第53-55页 |
本章小结 | 第55-56页 |
第六章 尿素改性剂对AL(OH)_3微观形貌的影响 | 第56-66页 |
·XRD 分析 | 第56-57页 |
·SEM 分析 | 第57-63页 |
·不同处理温度对粉体形貌的影响 | 第58-59页 |
·不同(NH_2)_2CO/Al(OH)_3 摩尔比处理粉体的微观形貌 | 第59-60页 |
·不同处理时间对粉体形貌的影响 | 第60-61页 |
·不同时间水热处理时间对粉体的影响(XRD) | 第61-63页 |
·粒度分析 | 第63-65页 |
·不同处理时间得到粉体的粒度分布 | 第63-65页 |
本章小结 | 第65-66页 |
第七章 不同介质水热时间的影响 | 第66-72页 |
·不同介质在140℃水热12 小时对粉体的影响 | 第66-68页 |
·不同介质在140℃水热24 小时对粉体的影响 | 第68-69页 |
·不同介质在140℃水热48 小时对粉体的影响 | 第69-71页 |
本章小结 | 第71-72页 |
第八章 机理分析 | 第72-75页 |
结论 | 第75-76页 |
参考文献 | 第76-79页 |
攻读硕士学位期间发表的学术论文 | 第79-80页 |
致谢 | 第80-81页 |