存储器测试方法的研究与测试程序的实现

摘要	第1-5页
Abstract	第5-8页
第一章 绪论	第8-19页
·课题研究的目的和意义	第8-10页
·课题研究的目的	第8-9页
·课题研究的意义	第9-10页
·存储器及其测试系统的发展趋势	第10-14页
·存储器的分类	第10-11页
·存储器的发展	第11-13页
·集成电路测试系统的发展	第13-14页
·测试技术的发展趋势与面临的挑战	第14-16页
·测试技术的发展趋势	第14-15页
·测试技术面临的挑战	第15-16页
·课题的主要工作	第16-19页
·工作中面临的问题	第16-17页
·课题任务	第17页
·本论文主要内容	第17-19页
第二章 存储器测试基本原理	第19-39页
·存储器的工作原理	第19-24页
·ROM 型存储器工作原理	第19-20页
·RAM 型存储器工作原理	第20-24页
·存储器的故障模式	第24-28页
·硬失效	第24-26页
·软失效	第26页
·潜失效	第26页
·故障模型	第26-28页
·几种故障模式的测试要求	第28-29页
·存储器的测试原理	第29-38页
·存储器测试类型	第29-30页
·存储器测试的主要方法	第30-33页
·存储器的测试算法	第33-38页
·本章小结	第38-39页
第三章 存储器测试的工程实现	第39-64页
·存储器测试程序的实现	第39-57页
·测试程序开发的准备工作	第39-43页
·测试程序实现的流程图	第43-47页
·测试程序的具体实现	第47-56页
·测试程序的完成	第56-57页
·存储器测试的硬件实现	第57-58页
·硬件的主要问题	第57页
·硬件设计的主要原理	第57-58页
·硬件设计的完成	第58页
·测试结果与验证	第58-63页
·测试情况	第58-62页
·测试验证	第62-63页
·本章小结	第63-64页
第四章 总结	第64-65页
致谢	第65-66页
参考文献	第66-68页
在学期间的研究成果	第68-69页