| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-21页 |
| ·问题的提出及背景 | 第11-12页 |
| ·重晶石和硼酸钙分析方法综述 | 第12-13页 |
| ·硼酸钙的分析方法 | 第12页 |
| ·重晶石的分析方法 | 第12-13页 |
| ·X 射线荧光分析发展概况 | 第13-18页 |
| ·X 射线荧光分析技术的进展 | 第13-14页 |
| ·X 射线荧光分析的应用现状 | 第14-18页 |
| ·考古分析领域 | 第14页 |
| ·地质分析领域 | 第14-15页 |
| ·冶金分析领域 | 第15-16页 |
| ·水泥分析领域 | 第16-17页 |
| ·有色金属分析领域 | 第17-18页 |
| ·生物环境分析领域 | 第18页 |
| ·立项的必要性 | 第18-19页 |
| ·拟开展的工作内容及技术路线 | 第19-21页 |
| ·工作内容 | 第19页 |
| ·技术路线 | 第19-21页 |
| 第二章 XRF 应用理论基础 | 第21-31页 |
| ·X 射线荧光光谱的原理 | 第21-24页 |
| ·X 射线荧光光谱基础 | 第21-22页 |
| ·X 射线荧光吸收增强效应 | 第22-23页 |
| ·X 射线与物质的相互作用 | 第23-24页 |
| ·X 射线荧光光谱仪种类及特点 | 第24-25页 |
| ·WDXRF 的定性分析 | 第25-27页 |
| ·定性分析的基本原理 | 第25-26页 |
| ·定性分析的一般步骤 | 第26页 |
| ·定性分析软件 | 第26-27页 |
| ·WDXRF 的定量分析 | 第27-30页 |
| ·定量分析一般步骤 | 第27页 |
| ·选择仪器测量条件 | 第27页 |
| ·确定实际2θ角度和脉冲高度 | 第27-28页 |
| ·脉冲高度分布及设置 | 第28页 |
| ·基体校正 | 第28-30页 |
| ·本章小结 | 第30-31页 |
| 第三章 实验方案设计 | 第31-44页 |
| ·实验方案 | 第31页 |
| ·实验仪器与试剂 | 第31-32页 |
| ·实验仪器 | 第31-32页 |
| ·试剂与标准物质 | 第32页 |
| ·重晶石样品的制备 | 第32-37页 |
| ·标样的前期准备 | 第33-35页 |
| ·粉末压片样品的制备 | 第35页 |
| ·熔融样片的制备 | 第35-37页 |
| ·硼酸钙样品的制备 | 第37-43页 |
| ·硼酸钙矿样全元素分析 | 第37-39页 |
| ·X 射线衍射（XRD）分析 | 第37页 |
| ·热失重扫描（TGA）分析 | 第37页 |
| ·X 射线荧光光谱（XRF）全元素分析 | 第37-39页 |
| ·标准物质的选择与确定 | 第39-40页 |
| ·标样的前期准备 | 第40-42页 |
| ·熔融样片的制备 | 第42-43页 |
| ·本章小结 | 第43-44页 |
| 第四章 硼酸钙定量分析 | 第44-52页 |
| ·实验方法的建立 | 第44-49页 |
| ·仪器条件的选择 | 第44页 |
| ·分析谱线的峰位值、测量时间、检出限以及脉冲高度的确定 | 第44-45页 |
| ·分析元素标准曲线的建立 | 第45-49页 |
| ·实验精密度及准确度分析 | 第49-51页 |
| ·精密度分析 | 第49-51页 |
| ·准确度分析 | 第51页 |
| ·本章小结 | 第51-52页 |
| 第五章 重晶石定量分析 | 第52-63页 |
| ·压片法 | 第52-57页 |
| ·仪器分析条件 | 第52页 |
| ·分析谱线的峰位值、测量时间、检出限以及脉冲高度的确定 | 第52-54页 |
| ·分析元素标准曲线的建立 | 第54-56页 |
| ·精密度分析 | 第56-57页 |
| ·准确度分析 | 第57页 |
| ·熔融法 | 第57-61页 |
| ·仪器分析条件 | 第57-58页 |
| ·分析谱线的峰位值、测量时间、检出限以及脉冲高度的确定 | 第58-59页 |
| ·分析元素标准曲线的建立 | 第59-60页 |
| ·精密度分析 | 第60页 |
| ·准确度分析 | 第60-61页 |
| ·粉末压片法与熔融法的对比 | 第61页 |
| ·本章小结 | 第61-63页 |
| 第六章 结论 | 第63-65页 |
| 参考文献 | 第65-68页 |
| 攻读硕士学位期间取得的研究成果 | 第68-69页 |
| 致谢 | 第69-70页 |
| 附录 | 第70页 |
