中文摘要 | 第1-7页 |
Abstract | 第7-18页 |
第1章 绪论 | 第18-37页 |
·课题背景及意义 | 第18-19页 |
·波长检测技术的分类 | 第19-32页 |
·色散型波长检测技术 | 第19-24页 |
·棱镜色散型波长检测技术 | 第21-22页 |
·光栅色散型波长检测技术 | 第22-24页 |
·干涉型波长检测技术 | 第24-31页 |
·迈克尔逊干涉型波长检测技术 | 第24-26页 |
·法布里-珀罗干涉型波长检测技术 | 第26-27页 |
·斐索干涉型波长检测技术 | 第27-29页 |
·三角共路(Sagnac)型波长检测技术 | 第29-31页 |
·可调谐滤波型波长检测技术 | 第31-32页 |
·声光可调谐滤波型波长检测技术 | 第31-32页 |
·液晶可调谐滤波型波长检测技术 | 第32页 |
·波长检测技术的应用 | 第32-35页 |
·在波长标定上的应用 | 第33-34页 |
·在激光波长测量上的应用 | 第34页 |
·在光纤光栅传感信号解调上的应用 | 第34-35页 |
·在激光器稳频上的应用 | 第35页 |
·本文主要研究内容 | 第35-37页 |
第2章 旋光色散效应的相关理论 | 第37-59页 |
·光的偏振理论 | 第37-47页 |
·偏振光的分类和琼斯矢量表示 | 第37-42页 |
·偏振光的产生和应用 | 第42-47页 |
·光在晶体中的传播 | 第47-52页 |
·石英晶体简介 | 第48-50页 |
·晶体中的光波 | 第50-52页 |
·偏振光的旋光理论 | 第52-58页 |
·旋光现象及其解释 | 第52-56页 |
·石英晶体的旋光色散效应 | 第56-58页 |
·本章小结 | 第58-59页 |
第3章 晶体旋光色散特性的测试 | 第59-77页 |
·信号测试原理 | 第59-62页 |
·单光路检测法 | 第59-60页 |
·双光路检测法 | 第60-62页 |
·晶体旋光色散特性测试系统 | 第62-64页 |
·实验系统及工作原理 | 第62-63页 |
·主要元器件介绍 | 第63-64页 |
·晶体旋光色散特性的测试与结果分析 | 第64-76页 |
·两光电探头波长响应一致性的测试 | 第65-69页 |
·晶体旋光色散特性的测试结果分析 | 第69-76页 |
·本章小结 | 第76-77页 |
第4章 近红外波段石英晶体旋光率的测试 | 第77-88页 |
·石英晶体旋光率的检测原理 | 第77-78页 |
·旋光率的测试与结果分析 | 第78-81页 |
·850nm波段旋光率的测试 | 第78-79页 |
·1310nm波段旋光率的测试 | 第79-80页 |
·1550nm波段旋光率的测试 | 第80-81页 |
·温度对石英晶体旋光性的影响 | 第81-86页 |
·实验装置及温控要求 | 第81-82页 |
·升温实验研究 | 第82-84页 |
·降温实验研究 | 第84-86页 |
·本章小结 | 第86-88页 |
第5章 基于旋光色散效应的法布里-珀罗可调谐滤波器波长标定 | 第88-108页 |
·法布里-珀罗可调谐滤波器简介 | 第88-92页 |
·法布里-珀罗可调谐滤波器波长标定技术 | 第92-94页 |
·光纤光栅阵列标定法 | 第92-93页 |
·法布里-珀罗激光器标定法 | 第93页 |
·气体吸收或发射光谱标定法 | 第93-94页 |
·基于旋光色散效应的光纤法布里-珀罗可调谐滤波器波长标定技术 | 第94-106页 |
·实验装置及元器件介绍 | 第95-98页 |
·实验测试与结果分析 | 第98-102页 |
·温度变化对测试结果的影响 | 第102-106页 |
·本章小结 | 第106-108页 |
第6章 基于旋光色散效应的近红外波段波长检测研究 | 第108-147页 |
·光纤布喇格光栅反射波长的检测 | 第108-115页 |
·光纤光栅简介 | 第108-110页 |
·波长检测系统 | 第110-111页 |
·数据处理与误差分析 | 第111-115页 |
·可调谐激光器输出波长的检测 | 第115-145页 |
·波长检测方案 | 第115页 |
·850nm波段输出波长的检测与分析 | 第115-125页 |
·1310nm波段输出波长的检测与分析 | 第125-136页 |
·1550nm波段输出波长的检测与分析 | 第136-145页 |
·本章小结 | 第145-147页 |
结论 | 第147-150页 |
参考文献 | 第150-162页 |
致谢 | 第162-163页 |
攻读学位期间发表论文 | 第163页 |
发明专利 | 第163-178页 |